196506. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és elrendezés anizotóp akusztooptikai, előnyösen tellúriumdioxid egykristályok felhasználás szempontjából kitüntetett kristálytani síkjának nagy pontosságú, félpercnél pontosabb orientálására
11 196506 12 lineáris, és az 5“-nak 6,3 perc szögeltérés felel meg. A 6-7. ábrák a 40 ernyőn megjelenő 20 téglatest képét mutatják, a 6. ábrán pozitív, a 7. ábrán az előbbivel ellentétes, vagyis negatív szögeltérésnél. A 8. ábra azt az ideális helyzetet szemlélteti, amikor az akusztikus hullám és az ultrahang energia terjedési iránya, valamint a téglatest szimmetriavonala éppen egybe esik. SZABADALMI IGÉNYPONTOK 1. Eljárás anizotrop akusztooptikai, előnyösen telluriumdioxid egykristályok felhasználás szempontjából kitüntetett kristálytani síkjának nagypontosságú, félpercnél pontosabb orientálására, amely eljárás sorén vizsgáló hullámként fényhullámot alkalmazunk, amellyel az egykristályt átvilágítjuk, az egykristályban récssikokat ultrahang - bebocséjtáséval - becsatolásával hullémfront síkokkal állítjuk elő, az egykristályban a vizsgáló hullám diffrakcióját az egymással párhuzamos rácssikokon hoozzuk létre, a diffrakciós képet kiértékeljük és a kiértékelés alapján meghatározzuk a vizsgáló ultrahanghullámban terjedő energia terjedési iránya, valamint a kristályrácssíkok normálisa közötti szöget, azzal jellemezve, hogy az ernyőn a fényhullám, előnyösen lézersugár Schlieren-féle akusztooptikai diffrakciós képét hozzuk létre és magát ezt a diffrakciós képet használjuk fel a kitüntetett kristálytani sík korrekciójának elvégzésére. 2. Az 1. igénypont szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a vizsgált egykristály téglatesteken optikai megmunkálással legalább két, egymással párhuzamos optikai ablakot és az ablakokra merőleges, valamint az ultrahang becsatolására alkalmas síkot alakítunk ki, majd a lézer sugárnyalábot a vizsgált téglatesten az optikai ablakokra merőleges irányban étbocsétjuk. 3. A 2. igénypont szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy az ultrahang becsatoláséra alkalmas síkkal párhuzamos, a téglatestet határoló szemközti síkot a lézer sugárnyaláb haladási irányával párhuzamos él mentén, mint forgástengely mentén elforgatjuk úgy, hogy az elforgatott sík az ultrahang becsatoláséra alkalmas síkkal 0“-näl nagyobb, de 20°-nál, előnyösen 10°-nél kisebb szöget zárjon be. 4. A 3. igénypont szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy az ultrahang becsatolásét ultrahangkeltő LiNbOa lapkával végezzük, melyet vezetóragasztóval a vizsgált téglatest becsatoláséra alkalmas síkjára ragasztunk, a lapka másik oldalán ugyanezen vezetőragasztóval alakítjuk ki a másik - felső - fegyverzetet, majd mindkét fegyverzetet kivezetéssel látjuk el, az ultrahangkeltőből es téglatestből álló fénymodulátort állóhullám-mentesitjük úgy, hogy a téglatest azon lapját, mely a felragasztott ultrahangkeltővel szemben van, félrecsiszoljuk, mérés alatt az ultrahangkeltőt 5-10 MHz alapfrekvenciéjú jel 30-60 MHzes sávba eső valamely felharmonikusén tápláljuk. 5. A 4. igénypont szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a vizsgált téglatestet kiterjesztett lézer sugárnyalábbal világítjuk át, a téglatesten átvezetett sugárnyalábot a téglatest mögött egy lencsével fókuszáljuk, majd a lencse fófókuszsikjában a diffraktélt sugárnyalábot kiválasztjuk, az ernyő képén a téglatest elforgatásával maximális fényintenzitást állítunk be, majd az ernyőn megjelenő kép felhasználásával a téglatest szimmetriavonala és az ultrahang energia terjedési iránya közötti szöget meghatározzuk. 6. Az 5. igénypont Bzerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a téglatest szimmetriavonala és az ultrahangenergia terjedési iránya közötti szöget egy diagram segítségével átszámítjuk szögpercekre, ennek alapján meghatározzuk, hogy a becsatolósíkot hány pm-rel kell félrecsiszolni, a téglatest becsatoló síkkal szemben levő síkját a becsatoló síkkal párhuzamosra csiszoljuk, ezután az ultrahangkeltót a téglatestről eltávolítjuk, majd a párhuzamosra csiszolt síkhoz mint bázishoz, a becsatoló síkot csiszolással úgy korrigáljuk, hogy a szögpercekben meghatározott szögeltérés csökkenjen, a fénymodulétort újból állóhullémmentesítjük, az ultrahangkeltót ismét felragasztjuk és újabb mérést végzünk, a mérés alapján az előbbiek szerint újabb korrekciót végzünk és a korrekciót mindaddig ismételjük, míg a kivánt orientáció-pontosságot el nem érjük. 7. Elrendezés anizotrop akusztooptikai, előnyösen tellurdioxid egykristályok nagypontosságú, például félpercnél pontosabb orientálására, célszerűn az 1-6. igénypontok bármelyike szerinti eljárás foganatosítására, amelynek lézer sugárforrása, egykristály befogója, ultrahangkeltőből és egykristály téglatesből álló fénymodulátora, valamint ernyője van, azzal jellemezve, hogy a teljes felületén átvilágított fénymodulétor (24) után a sugárnyaláb (12) irányában egy lencse (32), a lencse fófókusztávolságában egy furatos takarólemez (34), a takarólemez (34) mögött pedig az ernyő (40) van. 8. A 7. igénypont szerinti elrendezés, azzal jellemezve, hogy a lézer sugárforrás (10) és a fénymodulátor (24) között egy első és egy második lencséből (14a, 14b) álló nyalábtégitó van. 9. A 7. vagy 8. igénypont szerinti elrendezés, azzal jellemezve, hogy az egykristály befogó egy mérőállvány (18), mely fény-5 10 15 20 25 30 35 40 45 ;ío 55 60 7
