195037. lajstromszámú szabadalom • Eljárás mechanikai mennyiségek mérésére szolgáló mérőátalakító érzéklő membránjának előállítására

195037 ránjának előállítására, amely során félvezető testben (1) önmagában ismert módon ion­implantációval adott adalékanyag koncentrá­ciójú ellenállástartományokat (2) alakítunk ki, és az ellenállástartományokat (2) önmagá­ban ismert módon fémréteg (4) felvitelével Wheatstone-híd elrendezésű ellenálláshálózat­tá kötjük össze, azzal jellemezve, hogy az el­lenállástartományok (2) kialakítását megelő­zően az ellenállástartományok (2) tervezett végeinél önmagában ismert módon diffúzióval az ellenállástartományok adalékanyag kon­centrációjánál nagyobb adalékanyag koncent­rációval rendelkező, az ellenállástartományok vezetési típusával egyező vezetési típusú kon­taktustartományokat (3) alakítunk ki, majd ezt követően a kontaktustartományok (3) kö­zött hozzuk létre az ellenállástartományokat (2). 5 2.) Az 1. igénypont szerinti eljárás, azzal jellemezve, hogy a félvezető testnek (1) n ve­zetési típusú szilícium egykristályt válasz­tunk és azon p+ vezetési típusú kontaktustar- 5 tományok (3) előállításához a tervezett el­lenállástartományok (2) végeinél az egykris­tály felületére 950—1050°C, előnyösen 1000°C hőmérsékleten 60—180 percen, célszerűen 120 percen át, semleges, leginkább nitrogén 10 atmoszférában bór-adalékanyagot választunk le, ezt követően a képződött bórüveget 600 — 800°C, előnyösen 700°C hőmérsékleten víz­gőzzel telített oxigénben végzett hőkezelés­sel lazítjuk és önmagában ismert módon ned- 15 vés kémiai eljárással lemarjuk, majd a bort 1000—1100°C, célszerűen 1050°C hőmérsékle­ten oxigén jelenlétében 60—180 percen, cél­szerűen 120 percen át végzett hőkezeléssel behajtjuk. 1 lap rajz, 2 ábra i

Next

/
Thumbnails
Contents