193370. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés mágneslemez meghajtóegység hibájának meghatározására és ehhez való vizsgáló mágneslemez
11 10. Berendezés mágneslemez meghajtóegység hibájának meghatározásához, az 1—6. igénypontok bármelyike szerinti eljárás foganatosítására, amely berendezés tartalmaz a vizsgálandó meghajtóegységhez való olyan vizsgáló mágneslemezt, amelynek felírási felülete vizsgálójeleket tartalmazó legalább egy sávval van ellátva, és a meghajtóegység író/olvasó fejéhez, valamint méghajtásvezérléséhez csatlakoztatott kiértékelő és vezérlő egységet, azzal jellemezve, hogy a vizsgáló mágneslemezen (15) a sáv (S) középvonalához (18) képest felváltva ellentétes oldalra, azonos amplitúdóval felvitt és eltérő amplitúdójú beállítóimpulzusokkal (1,2, 3) csoportokra (I—VI) osztott helyzetimpulzusokat (4, 5, 8, 9) tartalmazó vizsgáló sávok (S) vannak a felírási felületen egyenletesen minden harmadik vagy negyedik,-vagy minden második és rákövetkező harmadik sávon elosztva, 12 továbbá a kiértékelő és vezérlő egység (25) a meghajtóegység fejpozícionáló rendszerét (11) három- vagy négy-, vagy két-sávos letapogatási ciklusban vezérlő fejbeállító egységet (D), az író/olvasó fejhez (13) csatlakoztatott kiértékelő és középertékképző egységet, híbajel tárolót (RAM), valamint a középérték jele(ke)t kijelző és/vagy kiíró egységet (G) tartalmaz. 11. A 10. igénypont szerinti berendezés, azzal jellemezve, hogy a íejpozícionáló rendszerhez (11) az író/olvasó fejet (13) egyelőre meghatározott kezdeti sávtól, előnyösen egy referencia sávtól (S*) kezdve, rendre a sávszám szerint növekvő vagy csökkenő irányban lévő vizsgáló sávokra, majd fordítva, a sávirány szerint csökkenő vagy növekvő irányban lévő vizsgáló sávokra (S) beállító fejbeállító egység (D) van csatlakoztatva. 5 10 15 20
