188258. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és áramköri elrendezés analóg integrált áramkörök és relék automatikus in-circuit tesztelésére
1 188 258 2 Adott egy decimális változó, melynek neve legyen D DATA. Az N-bites bináris 311 számláló ezen a D DATA értéket általakítja bináris számmá, azaz D D AT A/^ = D D AT A/bin lesz (Természetesen, hogy az egyenlőség teljesüljön, a bináris számláló hosszának megfelelően nagynak kell lennie, azaz , , D DATAra„ = 2n+2n-i + 2n-2+...2°, vagy egyszerűbben D DATAm„ =? 2N+I — 1 lehet) Az így kapott bináris számot - bitenként helyes sorrendben - a 44 vizsgált eszköz, D/A konverter 441 bemenetére adva, annak 442 kimenetén előáll a válaszjel. Ezen válaszjelet jobban és pontosabban mérhető mennyiséggé és nagyságúvá konvertáljuk a mennyiség és/vagy nagyságrend 312 konverter segítségével. * Az így kapott jelet nevezzük Uki-nek. Ha D DATA-max, akkor Eki kimenete is maximális értéket vesz fel. Definiáljuk most a következő változót: Az így kapott LÉPÉS változó reprezentálja a konverter egy „lépcsőjét”, azaz a 44 vizsgált eszköz D/A konverter Ekl kimeneti értékének megváltozását D DATA és D DATA ± 1 között. A 3. ábra szerinti 3 kiegészítő hardware működése az 5. ábrán látható folyamatábra szerint a következő: A program utasítására a teszter hardware-e az N-bites bináris 311 számlálót lenullázza (B2) azaz D DATA = 0 áll elő a 441 bemeneten, majd megvizsgálja, hogy a 44 vizsgált eszköz, D/A konverter 442 kimeneti jele megfelel-e ennek a bemenőjelnek (B3), ill. beállítható-e a NYÁK. -on elhelyezett valamely eszközzel (pl. potencióméterrel) (B 12)? Ha igen (B13), következő lépésben megméri és kiszámítja a korábban definiált LÉPÉS értékét (B4). Ha nem, a teszter a hibáról és annak mértékéről értesítést ad a kezelőnek (B14) és ezzel a tesztelés véget ért (B15). A főágban tovább haladva a korábban definiált LÉPÉS számítása történik, D DATA-D DATAmax értéknél. Ezután D DATA kezdő értéke az lesz, amelytől a vizsgálatot el kívánjuk kezdeni. Ezt az értéket jelképezi az „a”-val jelölt konstans (B5). Megméri az ehhez tartozó 442 kimenetjelet (B6), majd elosztja azt a korábban számított LÉPÉS értékével, és az eredményt VISZONY néven tárolja (B7). Ennek ideális esetben meg kell egyeznie D DÁTÁ értékével. A (B8) lépés számítja az eltérést %-osan, és DIFF név alatt tárolódik az eredmény. Ëzt a (B9) lépésben összehasonlítja a megengedett hibával. Ha a hiba nagyobb, mint a megengedett, elágazás történik a folyamat végrehajtásában és ismét hibadiagnosztizáló üzenetet kap a kezelő személy (B14). Ha nem, D DATA értékét egy konstans egész számai (ezt reprezentálja a „b”) megnöveljük (BIO) és megvizsgáljuk, hogy nem lépte-e túl D DATA a korábban már indokolást nyert D DATA max értékét (Bll). Ha igen, a tesztelés befejeződött (B15) és a 44 D/A konverter jónak minősült. Ha nem, a végrehajtás folyamata visszatér a (B6) lépésre. Pl. egy előnyös megvalósításnál a 312 konverter egy negatív visszacsatolású, precíziós műveleti erősítő. A találmány szerinti megoldás célkitűzését megvalósította és előnyei a következők:- kiterjesztette az ismert in-circuit teszter berendezések vizsgálati területét az analóg integrált áramkörökre és relékre is,- rugalmas programozást tett lehetővé egy-egy alkatrész több paraméterének elenőrzésére vagy többféle alkatrész egyidejű tesztelésére,- így lehetséges a nyomtatott áramköri kártyán szerelt alkatrészek együttes funkcionális ellenőrzése, a kártya teljes bemérése is,- meggyorsítja a szerelt kártyák vizsgálatát és a végbemérésnél lényeges időmegtakarítást mutat fel,- használata magasan kvalifikált személy alkalmazását nem igényli. Szabadalmi igénypontok 1. Eljárás analóg integrált áramkörök és relék automatikus in-circuit tesztelésére, ahol a tesztelésnél in-circuit teszter berendezés (2) mérőprogram (1) által vezérelt input-output csatornáit használjuk fel vizsgált eszközhöz (44) történő csatlakoztatására, azzal jellemezve, hogy a vizsgált eszközt (44) kiegészítő hardware-rel (3) illesztjük az in-circuit teszter berendezés (2) input-output csatornáihoz és az output csatornáról a vizsgált eszköz (44) jellemzőihez igazodó mérőprogram (1) segítségével a kiegészítő hardware-n (3) keresztül vagy közvetlenül vezérlő jeleket juttatunk a vizsgált eszköz (44) bemenetére (441) és a vizsgált eszköz (44) kimenetéről (442) a kiegészítő hardware-n (3) keresztül vagy közvetlenül válaszjeleket vezetünk az in-circuit teszter berendezés (2) input csatornájára és ezeket a mérőprogramban (1) meghatározott értékek figyelembevételével az in-circuit teszter berendezéssel (2) kiértékeljük és a kiértékelés eredményét video-display-en (21) és/vagy üzenetnyomtatón (22) megjelenítjük. 2. Áramköri elrendezés analóg integrált áramkörök és relék automatikus in-circuit tesztelésére, amely tartalmaz mérőprogramot (1), in-circuit teszter berendezést (2) video-display-jel (21), üzenetnyomtatóval (22) és billentyűzettel (23) mérendő nyomtatott áramköri lemezt (4), utóbbira szerelt vizsgált eszközt (440), bemenettel (441) és kimenettel (442), a mérőprogram (1) az in-circuit teszter berendezésben (2) van elhelyezve és az in-circuit teszter berendezés (2) video-display-e (21), üzenetnyomtatója (22) és billentyzete (23) a mérőprogrammal (1) vezérlőkapcsolatban van, azzal jellemezve, hogy az áramköri elrendezés tartalmaz a vizsgált eszköz (44) jellemzőihez igazodó felépítésű kiegészítő hardware-t (3) amely kétirányú kapcsolatban áll az in-circuit teszter berendezés (2), input-output csatornáival, továbbá csatlakozik a vizs5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 50 4
