188258. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és áramköri elrendezés analóg integrált áramkörök és relék automatikus in-circuit tesztelésére
1 188 258 2 dezés (2) video-display-e (21), üzenetnyomtatója (22) és billentyűzete (23) a mérőprogrammal (1) vezérlő kapcsolatban van. Az áramköri elrendezésre jellemző, hogy tartalmaz a vizsgált eszköz (44) jellemzőihez igazodó felépítésű kiegészítő hardware-t (3) amely kétirányú kapcsolatban áll az in-circuit teszter berendezés (2), input-output csatornáival, továbbá csatlakozik a vizsgált eszköz (44) bemenetére (441) és/ vagy kimenetére (442). (1. ábra) A találmány tárgya eljárás és áramköri elrendezés analóg integrált áramkörök és relék in-circuit tesztelésére, amelynek során felhasználásra kerül egy ismert in-circuit teszter berendezés és egy-egy a tesztelendő analóg integrált áramkör és relé - továbbiakban: vizsgált eszköz - jellemzőihez igazodó mérőprogram és kiegészítő hardware, amely a szerelt NYÁK. méréséhez használt befogószerkezetében nyer elhelyezést. A találmány hasznosítási területe a szerelt nyomtatott áramköri lemezekbe beépített analóg integrált áramkörök és relék tesztelése. Elsősorban figyelembe vehetők: komparátorok, műveleti erősítők, feszültségszabályozók, analógszorzók, mintavevő-tartók, frekvencia (feszültség-, feszültség) frekvencia átalakítók, digitális/analóg- és analóg/digitális konverterek, optócsatolók. A mérési módszerek kombinálásával a nyomtatott áramköri szerelt kártyán nagyobb funkcionális egységek együttes ellenőrzése, bemérése is lehetséges a találmány szerinti megoldás segítségével. Az eddig ismert és a technikai szintet képviselő in-circuit teszterként a Gen-Rad GR 2270 berendezést példaként hívjuk fel, de az eljárás leírása alapján bármely in-circuit teszter alkalmazható. Az ismert berendezések software és a tesztelni kívánt eszköz jellegétől függően - hardware támogatásukat tekintve, közvetlenül nem alkalmasak szerelt nyomtatott áramköri lemezekbe beépített analóg integrált áramkörök és relék tesztelésére. Nem alakítható ki olyan mérési metódus, amely a digitális IC-knél alkalmazott in-circuit teszter automatikus tesztgenerátorának könyvtárába beépíthető lenne az analóg integrált áramkörök és relék esetében is. Ennek egyik oka az, hogy az analóg IC-k típusválasztéka sokkal nagyobb, mint a digitális IC-ké. Még ugyanazon típusú IC-k esetében is eltérések lehetnek a különböző gyártó cégeknél. Másik okként megemlítjük, hogy az analóg IC-k illeszkedése az áramkörökben sokkal kevésbé determinált mint a logikai eszközöké. A találmány célja olyan tesztelési megoldás kidolgozása, amely lehetővé teszi az ismert in-circuit teszter berendezés és egy-egy a vizsgált eszközök jellegéhez igazodó - kiegészítő hardware felhasználásával azok interaktív kapcsolata mellett analóg IC-k és relék tesztelését. A találmány szerinti megoldás azon a felismerésen alapul, hogy ha az in-circuit teszter berendezéshez a vizsgált eszközt egy kiegészítő hardware segítségével illesztjük és megfelelően kialakított mérőprogrammal vezéreljük, s a vezérlőjelekre kapott válaszjeleket a mérőprogramban meghatározott értékek figyelembevételével az in-circuit teszter berendezéssel kiértékeljük, akkor az analóg integrált áramkörök és relék tesztelése, együttes funkcionális ellenőrzése már bármely in-circuit teszter berendezéssel, lényeges időmegtakarítással elvégezhető. A találmány szerinti eljárásnál az in-circuit teszter berendezés mérőprogram által vezérelt input-output csatornáit használjuk fel vizsgált eszközhöz történő csatlakoztatásra. Az eljárásra jellemző, hogy a vizsgált eszközt kiegészítő hardware-rel illesztjük az in-circuit teszter berendezés input-output csatornáihoz és az output csatornáról a vizsgált eszközt jellemzőihez igazodó mérőprogram segítségével a kiegészítő hardware-n keresztül vagy közvetlenül vezérlő jeleket juttatunk a vizsgált eszköz bemenetére. A vizsgált eszköz kimenetéről a kiegészítő hardware-n keresztül vagy közvetlenül válaszjeleket vezetünk az in-circuit teszter berendezés input csatornájára és ezeket a mérőprogramban meghatározott értékek figyelembevételével az incircuit teszter berendezéssel kiértékeljük és a kiértékelés eredményét video-display-en és/vagy üzenetr nyomtatón megjelenítjük. Tehát a kiegészítő hardware-rel az in-circuit teszter berendezés jelkészletét a vizsgált eszköz számára fogadhatóvá konvertáljuk, s a vizsgált eszköz kimenetén megjelenő válaszjeleket pedig szintén a kiegészítő hardware-re vezetjük, hogy azokat az in-circuit teszter berendezés részére mérhető mennyiségekké alakítsuk át. Természetesen a vizsgált analóg integrált áramkörök és relék konkrét típusától függően mind a vezérlő jeleket mind pedig a válaszjeleket közvetlenül is csatlakoztathatjuk az in-circuit teszter berendezés input-output csatornáihoz. Az in-circuit teszter berendezés a kiegészítő hardware felől érkező jeleket - ismert módon - a mérőprogram felügyelete alatt összeveti a mérőprogramban lévő, jónak elfogadott válaszjelekkel. Amennyiben az összevetés a megengedettnél nagyobb eltérést mutat, akkor az in-circuit teszter berendezés a vizsgált eszközt hibásnak minősíti és a hiba jellegét, mértékét a video-display-en és/vagy üzenetnyomtatón megjeleníti. A találmány szerinti megoldást részletesebben rajzok alapján ismertetjük, melyek a következők: 1. ábra a találmány szerinti áramköri elrendezés tömbvázlatát, 2. ábra a kiegészítő hardware egyik lehetséges kiviteli alakját, 3. ábra a kiegészítő hardware egy másik lehetséges kiviteli alakját, 4. ábra a 2. ábra szerinti kiegészítő hardware működésének folyamatábráját, 5. ábra a 3. ábra szerinti kiegészítő hardware működésének folyamatábráját ábrázolja. Az 1. ábra a találmány szerinti áramköri elrendezés tömbvázlatát ábrázolja, ahol 1 mérőprogram, 2 in-circuit teszter berendezés, 21 video-display, 22 üzenetnyomtató, 23 billentyűzet, 4 nyomtatott áramköri lemez, amely a 44 vizsgált eszköz hordozója 441 bemenettel és 442 kimenettel. A 44A és 44B egységek a 44 vizsgált eszköz 441 bemenetéhez, ill. 442 kimenetéhez kapcsolódnak, s a találmány szempontjából nem lényegesek. 5 10 15 20 25 30 35 4C 45 50 55 60 2
