184437. lajstromszámú szabadalom • Integrált áramkörös elektromechanikai átalakító

1 184437 2 A találmány tárgya olyan integrált áramköri elek­tromechanikai átalakító szerkezet, mely alkalmas ab­szolút és relatív nyomás, erő, gyorsulás és más techni­kai mennyiségek mérésére. A kitűzött feladatot az ismert megoldásoktól alap­vetően eltérő módon oldjuk meg. A javasolt szerkezet lényege, hogy a teljesen áttört, vagy üregesen kiképzett félvezető érzékelő testen a de­formáció érzékeny integrált áramkör, vagy integrált áramköri elemek az áttörés, vagy az üreg körül he­lyezkednek el. Ma már széles körben alkalmaznak a hagyományos mechanikus rendszerek helyett azoknál nagyobb pon­tosságú, érzékenyebb félvezető alapú elektromechni­­kai átalakítókat (transducereket, transmittereket). A félvezető alapú átalakítók közös jellemzője, hogy va­lamely résznél mereven befogott félvezető testet tar­talmaznak, amelyen deformáció érzékeny integrált áramkör vagy áramköri elem helyezkedik el, és az az integrált áramkör vagy áramköri elem a félvezető test­ben létrejövő, a mérendő mechanikai mennyiséggel arányos deformáció hatására valamilyen paraméterét megváltoztatja. Ilyen áramköri elem lehet pl. a bipoláris tranzisz­tor, amelynek deformációérzékeny paramétere a p—n átmenet karakterisztikája vagy bázisszélesség, a MOS tranzisztor, ahol ez a paraméter a csatornaszélesség vagy az inverziós réteg piezorezisztivitása, a piezore­­zisztív ellenállás, amelynek fajlagos ellenállása defor­mációfüggő, stb. A napjainkban kivitelezett rendszerek közül a leg­jobbaknak azok a félvezető alapú elektromechanikai átalakítók bizonyultak és terjedtek el, amelyek félve­zető testje sík vagy üreges kiképzésű és a félvezető tes­tén megfelelőek pozícionált és egy Wheatstone híd négy ágát képező integrált piezorezisztiv ellenállások helyezkednek el. Egy korszerű és a gyakorlatban megvalósított kivi­teli példát javasolt a 4065 971 lastromszámú USA sza­badalom. A szabadalom feltatálói az üregesen kiképe­zett félvezető testen oly módon helyezik el a piezore­zisztiv ellenállásokat, hogy azok a félvezető test legvé­­konyabb részén és mindenkor a mérendő mechanikai mennyiséggel arányos közvetítő erőre merőleges sík­ban helyezkednek el. Az ismert megoldást az 1. ábrán mutatjuk be, ahol 1 félvezető testet, 2 üreget, 3 piezorezisztiv ellenállá­sokat jelenti. Az 1 ábrából tehát egyértelműen megállapítható, hogy a 3 piezorezisztiv ellenállások az 1 félvezető test­nek azon a részén helyezkednek el, mely a mérendő erő hatására meghajlik. További kiviteli példát ismertet az IEEE Transac­tions on Electron Devices VOL, ED—26 No 12 De­cember 1979. számában. A szerzők Sámuel K. Clark és Kensall D. Wise. A hivatkozott irodalomban a szerzők lényegében hasonló szerkezetű megoldást ismertetnek, amely a napjainkban a legjobban elterjedt. Ezen ismertetés összefoglalja e megoldások közös jellemzőit és megál­lapítja, hogy a piezorezisztiv ellenállások az üregesen kiképzett szilícium alapú test legvékonyabb részének felületén helyezkednek el, amely az erő hatására meg­hajlik. A félvezető alapú elektromechanikai átalakítók lé­nyegesen kedvezőbb tulajdonságokat mutatnak bár­mely hagyományos rendszerhez képest, például na­gyobb az érzékenység, kisebb a hiszterézis és a nemli­­nearitás, hosszabb az élettartam stb. E jelentős elő­nyük melett azonban számos hibájuk van, ami alól nem mentesek a legjobbnak minősített, legkorszerűbb piezorezisztiv félvezető alapú elektromechanikai áta­lakítók sem. Nehézséget jelent a félvezető testet befogó szerkeze­ti anyagok és tömítések megválasztása, ezeknek ugyanis a hőtágulás szempontjából illeszkedniük kell a félvezetőhöz, ezenkívül — nagyobb igénybevételek esetén, pl. nagy nyomások mérésekor — is megfelelő­en tömítettnek és elég robosztusnak kell lenniük ah­hoz, hogy ne deformálódjanak. Ha a mérendő közeg a félvezetőre nézve agresszív, akkor ezeket egymástól egy közvetítő közeggel és azt lezáró fém-membránnal el kell választani, ami — fő­ként dinamikus mérési üzemmódban — a mérési hibá­kat növeli. A félvezető test lehajlásának csak egy szűk tarto­mányában lineáris, azentúl egyre nagyobb nem-line­­aritást mutat. Körülményes és igen kritikus művelet a félvezető test lehajló részének levékonyítása, mert ezen művelet pontosságától nagymértékben függ a rendszer érzékenysége és linearitása. A napjaink gyakorlatában megvalósított elektro­mechanikai átalakítókra tehát közösen jellemző, hogy a félvezető érzékelő test sík vagy üregesen kiképzett és a homogén vastagságú vagy üreges kiképzés esetén a levékonyított testen a piezorezisztiv ellenállások a fél­vezető test azon részén helyezkednek el, amely a me­chanikai mennyiséget közvetítő erő hatására meghaj­lik. A találmány célja olyan mérőrendszer kidolgozása, amellyel a mechanikai mennyiségek úgy mérhetők, hogy a korszerű félvezető alapú elektromechanikai átalakítók előnyös jellemzőinek megőrzése mellett egyidejűleg azok hiányosságai és hibái csökkenthe­tők, illetve kiküszöbölhetők legyenek. A találmány alapja az a felismerés, hogy a rendszer nem-linearitása és hiszterézise csökkenthető, ha olyan helyzetet teremtünk, melyben a félvezető testre ható, a mérendő mechanikai mennyiségra jellemző erőhatás a félvezető test mechanikai feszültségállapotát a de­formációérzékeny integrált áramköri elemek helyén lokálisan maximálisan növeli, miközben a teljes félve­zető test alakja, a lehető legkisebb mértékben változik meg. Ennek eredményeként megnő a rendszer érzé­kenysége, ami tovább csökkenti a maximális igénybe­vételre vonatkoztatott nem-linearitást és hiszterézist, de a hasonlóan definiált összes egyéb hiba is csökken. A kitűzött feladatot azzal oldjuk meg, hogy a félve­zető érzékelő testben teljesen áttört nyílást vagy üre­get képezünk ki, és a deformációérzékeny integrált áramkör, vagy áramköri elemek, vagy az áttört nyílás körül vannak elhelyezve, vagy az üreg körüli, annak kiindulási síkjában helyezkednek el. A találmány egyik, áttört nyílással kiképzett kiviteli példáját a 2. ábrán mutatjuk be. Az abszolút és relatív nyomás, erő, gyorsulás vagy egyéb mechanikai mennyiség mérésére előnyösen al­kalmazható integrált áramkörös elektromechanikai átalakító szerzeket 4 félvezető érzékelő testén 6 áttö­rés van kiképezve, és az 5 deformációérzékeny integ­5 10 15 20 25 30 35 40 15 50 55 60 GR 2

Next

/
Thumbnails
Contents