179854. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés közvetlen hozzáférésű beírható-kiolvasható statikus félvezeőmemóriák (RAM) funkcionális vizsgálatára
3 179854 4 vány szerint arányosak. Ezek szerint ismeretesek ún.J4- típusú (lineáris), N2-típusú (négyzetes) és N37-típusú jelminták. Ehelyütt részletezés nélkül csak felsorolunk néhány ismert jelmintát, típus szerinti csoportosításban. N-típusúak pl. következők: homogén mező, vízszintes 5 csíkozás, függőleges csíkozás, sakktábla, átló, paritás, menetelő „0” és „1”, környezeti zavarvizsgálat és címkomplementáló vizsgálat. A szükséges funkcionális mérési lépések száma szempontjából N2-típusúak a Vándorló 16 ,,1” és ,,0”, a galopp írás-olvasás jelminták, 10 még végül N3/2-típusú ismert jelminta a csúszó átló és az ún. pillangó. A csupán felsorolt ismert jelminta-választék birtokában mind a mai napig nyitott és számos alkalommal vitatott kérdés az, hogy a félvezető memóriák gyártói és fel- 15 használói mely jelmintákat vegyék fel és alkalmazzák funkcionális vizsgálati programjukban. Belátható, és a szakirodalom szerint is igaz, hogy a memória használhatóságáról megközelítőleg teljes képet az N2-típusú jelmintavizsgálatok adnak. 20 Ugyanakkor ismert, hogy egy pl. 1024 bites statikus memória esetében 5 MHz mérési sebesség mellett egy N2-típusú jelminta végigmérése kb. 850 ms-ig, egy N3,2-típusúé 60 ms-ig, egy N-típusú jelmintáé kb. 3 ms-ig tart. Nyilvánvaló, hogy a vizsgálat körébe be- 25 vont jelmintakör megválasztásának egyik oldalról a műszaki biztonság, másik oldalról pedig a mérés, ill. vizsgálat gazdaságossága szab határt. Az N2-típusú jelmintákkal való vizsgálatod hosszú mérési ideje miatt általában az N-típusú jelmintákkal 30 való vizsgálatot ajánlják 100%-os vizsgálathoz, míg az - N2-típusú sokkal nagyobb mérési lépésszámú jelmintákkal való vizsgálatokat szúrópróbaszerű, mintavételes ellenőrzésekhez alkalmazzák. Gazdaságossági és vizsgálati hatásossági megfonto- 35 lásokkal magyarázható a hagyományos N-típusú homogén mező, csíkozás, sakktábla, átló,-1 menetelő jelminták mellé az N3 2-típusú jelminták kifejlesztése és alkalmazása, amelyek hatásosságukban az N2-típusúakhoz, időszükségletük tekintetében pedig az N-típusúak- 40 hoz állnak közelebb. Más oldalról, nevezetesen a jelminta generálás és az e célra szolgáló berendezések oldaláról vizsgálva a kérdést megállapítható, bogy a félvezetőmemóriák funkcionális mérése a szakirodalom szerint vagy univerzális 45 számítógépvezérelt mérőautomatákkal, vagy memóriamérő célberendezésekkel (úft.f; „memory exerciser”-ekkel) történheti Az univerzális1 mérőautomatáknál a mérési jelmintát lokális memórián keresztül a számítógép szolgáltatja, a célberendezéseknél pedig a mérési jel- 50 minta mikroprogramozva van ROM, PROM vagy lyukszalag által feltölthető RAM áramkörökben. A találmány célja egyrészt a. jelminta generálás fenti •ismert, eszközigényes és költséges módszerei helyett olyan eljárás kialakítása és alkalmazása, amely az ismer- 55 i lekhez képest lényegesen kisebb bonyolultságú és olcsóbb kapcsolási elrendezéssel; ill. berendezéssel megvalósítható, másrészt az eljárás-foganatosításához optimális megbízhatóságot adó, gazdaságosan végezhető, ill, alkalmazható szűkített jelminta választék és ennek 60 előállítására alkalmas .funkcionális vizsgálóberendezés kialakítása. , . , •> ’ A kitűzött délt olyan tárgyi eljárással érjük el, amelynek lényege, hogy a vizsgálathoz alkalmazott adatjel. mintákat lojíális memórián keresztül történő számító- 65 gépes vezérlés vagy mikroprogramozott tárolásuk helyett a találmány értelmében a vizsgálat során rendre a címjelminták logikai függvényeiként állítjuk elő. Bizonyos, a szükséges funkcionális lépések száma szempontjából nem lineárisan arányos lépésszámú jelminták találmány szerinti előállítását úgy végezzük, hogy írás üzemmódban az adatjelmintát a címjelminta logikai függvényeként képezzük, az olvasást pedig egy a címjelmintá logikai függvényeként képzett korlátozott címjelminta szerint végezzük. A találmány szerinti eljárás célszerű foganatosítási módjainál tehát egyes, az adott jelmintához szükséges funkcionális mérési lépések száma szempontjából a memória N cellaszámával nem lineárisan arányos mérési lépésszámú (pl. csúszó átló, vándorló, galopp) adatjelminták helyett ezekhez képest korlátozott vizsgálati lépésszámú (többszörös átló, maszkolt vándorló, maszkolt galopp) adatjelmintákat alkalmazunk. A különösen dekóderhibák kimutatására alkalmas N3/2 típusú csúszó átló jelminta helyett így célszerűen az ún. többszörös átló jelmintát alakítottuk ki és alkalmazzuk, amely szerint a memóriát egy egyszerű átlót követően egy nyolcsoronként, majd egy négysoronként kezdődő átló beírásával és kiolvasásával vizsgáljuk. Az N2 típusú vándorló és galopp jelminták helyett a találmány szerint korlátozott, tehát csökkentett lépésszámú, MN-típusú ún. maszkolt vándorló, ill. maszkolt galopp jelmintákat alkalmazunk, ahol M a maszk bitjeinek a száma, amennyiben minden egyes cella beírását követően a memóriatartalom egyszerű vagy galoppozó kiolvasását csupán a memóriacella-mátrixnak a mindenkori beírt cellát, azaz a továbblépő beírt jelet célszerűen szimmetrikusan körülvevő meghatározott, különösen 8x8 bites cellatartományára (amit maszknak nevezünk) korlátozva végezzük el. A fenti, találmány szerinti eljárás foganatosítására alkalmas ugyancsak találmányunk szerinti tárgyi berendezésnek a vizsgálandó memóriák és egy etalon memória befogására és adott esetben illesztésére is alkalmas cserélhető típuskártya memória-kivezetéseihez csatlakoztatott logikai komparátora, a típuskártya címzés-, ill. adatbemeneteivel adatjelminta típusszelektoron keresztül összeköthető első és második jelmintagenerátor egysége, valamint a típusszelektorral, a jelmintagenerátor egységekkel és a logikai komparátorral egyaránt összekötött órajelgenerátort és jelminta-programadót tartalmazó vezérlőegysége van. Több be- és kimenettel bíró statikus RAM áramkörök funkcionális vizsgálatára különösen alkalmasak a találmány szerinti berendezés olyan kiviteli alakjai, amelyeknél a típuskártya adatjel bemenetei és a típusszelektor közé beiktatott dekóder demultiplexer egysége is van. A találmány szerinti eljárást és berendezést, annak további jellemzőit és előnyeit az alábbiakban egy példaképpeni berendezés és annak működésmódja kapcsán a csatolt rajz segítségével ismertetjük részletesebben. A rajzon az 1. ábra egy példaképpeni találmány szerinti berendezés főbb funkcionális egységeit és azok kapcsolatait erősen egyszerűsítve bemutató tömbvázlat, a 2. ábra a csúszó átló helyett a találmány szerint bevezetett többszörös átló jelmintával beírt példaképpeni 256 bites cellamátrixok vázlata, míg a 3. ábra a találmány szerinti maszkolt vándorló és maszkolt galopp adatjelminták ismertetését szolgáló 2
