179543. lajstromszámú szabadalom • Berendezés fény intenzitásának mérésére
MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG SZABADALMI LEÍRÁS 179543 Bejelentés napja: 1978.1. 25. (MI-627) Amerikai Egyesült Államokbeli elsőbbsége: 1977. III. 25.(781,180) ORSZÁGOS TALÁLMÁNYI HIVATAL Közzététel napja: 1982. II. 27. Megjelent: 1984. VI. 30. Nemzetközi osztályozás: NSZO3: G01J 3/30, GOIN 21/17 Feltalálók: Szabadalmas: Kramer Donald L. mérnök, White James A. mérnök, Elkhart, Indiana, Amerikai Miles Laboratories, Inc., Egyesült Államok Elkhart, Indiana, Amerikai Egyesült Államok Berendezés fény intenzitásának mérésére 1 A találmány tárgya berendezés fény intenzitásának mérésére, amely mind fényvisszaverődés, mind a fényáteresztő képesség mérésére szolgál. Pontosabban, a találmány tárgya olyan továbbfejlesztett spektrofotométer, amely egyaránt alkalmas mind a fény reflexiójának, mind a fényáteresztő képességi együtthatónak a mérésére. Az egyik ismert reflektált fényt mérő berendezésnél a szín meghatározására fotoelektromos cellát alkalmaztak. A mérést úgy végezték, hogy egy ismert intenzitású referenciafényforrással megvilágított színes felületről visszavert fény intenzitását mérték. Az ismert intenzitású reflektált fény reflexiójának mérése alapján történő meghatározásnak számos hátránya volt. Különösen hátrányos volt a mérés lassúsága, főleg, amikor analitikai vizsgálatok céljára gyors színmeghatározásra volt szükség, például kémiai reagens anyaggal impregnált abszorbens anyagok analitikai vizsgálata alkalmával. Az ismert mérőberendezések néhány típusánál igen hátrányos volt, hogy csak jelentős idő- és munkaráfordítással lehetett a műszerbeállítást szabványosan elvégezni. Hátrányos volt továbbá, hogy a hőmérséklet változásakor és időváltozáskor is a mérőberendezéseket ismételten kalibrálni kellett. Egy további hátrány abban volt, hogy az etalon fényforrás teljesítményének esetleges változása meghamisíthatta a mérési eredményt. A teljesítmény beszabályozása szempontjából az ismert mérőberendezéseknél vagy a feszültség, és/vagy az áram értékét szabályozták, hogy 2 ezáltal az etalon fényforrást konstans teljesítménnyel táplálják. A kalibrálási hibák következtében a mérőberendezéseknél gyakorta előfordult, hogy az etalon fényforrás teljesítménye rövid idő alatt megvál- 5 tozott, más esetekben a fotoelektromos cella érzékenysége változott meg. Az ismételt kalibráció szükségessége nemcsak kényelmetlenséget jelentett, hanem mérési hibákhoz is vezetett, ha a kalibrálás pontossága nem volt kielégítő. Fentiek következtében 10 a mérőberendezések kezeléséhez megfelelő szakképzettséggel rendelkező munkaerők alkalmazása volt szükséges. Az ismert mérőberendezések egy további hátránya az volt, hogy a fényforrás túl nagy hőt termelt, minek 15 következtében az etalon fényforrás részére igen nagy teljesítmény volt szükséges. Hőszűrők alkalmazása a vizsgálandó minta védelme céljából nem oldotta meg ezt a problémát. A hőszűrők ugyanis nem csökkentik az etalon lámpa részére szükséges hőteljesítmény 20 értékét, hanem csupán a fényforrás fényintenzitását csökkentik. Már javasolták, hogy hőszűrők céljára zsalus szerkezeteket alkalmazzanak, azonban ezek sem váltották be a hozzájuk fűzött reményeket, mert így sem vált lehetővé a hőteljesítménynek mini- 25 mumra való csökkentése. Az ismert mérőberendezések további hátránya az volt, hogy igen nagy súlyúak, nagyméretűek voltak. További hátrányuk volt, hogy különösképpen nagy méretük és komplex szerkezeti kialakításuk miatt 3Q rendkívül költségesek voltak, valamint, hogy a
