177340. lajstromszámú szabadalom • Kondenzorrenszer adott felület homogén megvilágítására
MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG SZABADALMI LEÍRÁS SZOLGÁLATI TALÁLMÁNY 177340 ORSZÁGOS TALÁLMÁNYI Bejelentés napja: 1978. IV. 24. (LI—326) Közzététel napja: 1981. III. 28. Nemzetközi osztályozás: G 02 B 19/00; F 21 V 11/10 HIVATAL Megjelent: 1982. XI. 30. Feltalálók : Lisziewicz Antal, oki. mat., Budapest, (40%), Szabadalmas: Magyar Optikai Művek, Budapest Korzsinek Zsuzsa, oki. techn., Budapest. (20%), Nagy István, üzemmérnök, Budapest, (10%), Szalai György, oki. fizikus, Budapest, (10%), Ványai László, oki. fizikus, Miskolc, (10%), Sass Gáborné, oki. gépészm.. Budapest, (10%) Kondenzorrendszer adott felület homogén megvilágítására 1 2 A találmány tárgya kondenzorrendszer adott felület homogén megvilágítására, amely fényforrás képét első síkra leképező első kondenzort, az első kondenzoron belül elhelyezett fényhatároló rekeszt, az első síkot gyújtósíkjában tartalmazó leképező elemet, továbbá a fényhatároló rekesz síkját a leképező elemmel közösen N nagyítással leképező második kondenzort és a homogénüi megvilágítandó felület körül, arra szimmetrikusan c kiteijedéssel kijelölt térrészt tartalmaz. A találmány szerinti kondenzorrendszer a káros reflexiók kiküszöbölésével a kijelölt térrészben levő felület homogén megvilágítását biztosítja. A modem laboratóriumi és ipari műszerekben, mérőberendezésekben számos helyen alkalmaznak olyan elektromos érzékelő és kiértékelő rendszereket, amelyek kijelölt felület vagy térrész megvilágítása alapján működnek. A megvilágítást például az optikai letapogatás teszi szükségessé, aminek megfelelő minősége csak úgy biztosítható, ha a fényforrás a megvilágítandó felület minden egyes pontján közel azonos, tehát homogénnak tekinthető megvilágítást hoz létre. Egy felület pontjait akkor tekintjük homogénüi megvilágítottnak, ha a felület bármely pontját ugyanolyan kúpszögű fénynyaláb világítja meg és a felület pontjait megvilágító adott bármely szögű nyaláb a fényforrás egyetlenegy pontjából ered. A homogén megvilágításhoz az azonos kúpszöget a fényforrás után elhelyezett kondenzorban kialakított rekesz, míg az egyenletes megvilágítási intenzitást egy lencse gyújtósíkjában elhelyezett határolórekesz biztosítja. A megvilágító rendszer minden szennyezése, felületi egyenetlensége zavaró reflexió forrása lehet, amely a megvilágítás egyenletességét lerontja, és ezzel a mérésben, érzékelésben hibát okoz. A megvilágító rendszer felületein jelen lévő szennyezések minden mérést megelőzően elvégzett eltávolítása az ipari és laboratóriumi feltételek között általában nem mindig biztosítható. Különösen sok gondot okoz ebből a szempontból az a tény, hogy a megvilágítás optikai rendszere helyhiány miatt sok esetben egyetlen egyenes vonal mentén nem hozható létre. Ennek megfelelően a fény útjában optikai fényeltérítő (tükör, prizma), vagy térrészhatároló elemeket (plánlemez, szűrő) kell elhelyezni. Az optikai rendszeren belüli felületeken alkalmazott reflexiócsökkentő rétegek a -megvilágítás homogenitását rontják le. A találmány célja a fenti hiányosságok kiküszöbölése és olyan kondenzorrendszer létrehozása, amely adott felület homogén megvilágítását biztosítja. Találmányunk alapja az a felismerés, hogy a kondenzorrendszer elemeit megfelelően egymástól eltávolitva lehetővé válik a felületi egyenletlenségekből származó fényeloszlási egyenetlenségek továbbvitelének megakadályozasa, az egyenetlenségek képeinek kiszűrése a megvilágítást létrehozó fénynyalábból. Célunk elérésére adott felület homogén megvilágítására kondenzorrendszert hoztunk létre, amely fényforrás képét első síkra leképező első kondenzort, az első kondenzoron belül elhelyezett fényhatároió rekeszt, az első síkot gyújtósíkjában tartalmazó leképező elemet, továbbá a fényhatároló rekesz síkját a leképező egységgel együtt leképező második kondenzort és a homogénüi megvilágítandó felület 5 10 15 20 25 30 177340
