175460. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés gyorsan változó periodikus villamos jelek jelalakjának mérésére és kiértékelésére
MAGTAR SZABADALMI 175460 NÉPKÖZTÁRSASÁG LEÍRÁS SZOLGÁLATI TALÁLMÁNY Nemzetközi osztályozás: Bejelentés napja: 1977. XI. 03.. (EE-2530) G 01 R 13/02 ORSZÁGOS Közzététel napja: 1980. II. 28. r TALÁLMÁNYI HIVATAL Megjelent: 1981.1. 31. Föltalálok: Szabadalmas: Bódy István, villamosmérnök 20%, Estélyi Gyula, villamosmérnök 17%, Deák László Elektronikus Mérőkészülékek Gyára, villamosmérnök 2,5%, Markó Mihály, villamosmérnök 7%, Pipa István, üzemmérnök Budapest 2,5%, Szemők István, villamosmérnök 15%, Devecseri Béláné, villamosmérnök 2,5%, Gállos Mária, villamosmérnök 2,5%, Mohos Zoltán, villamosmérnök 15%, Mezei Géza, villamosmérnök 7%, Papp Ferenc, villamosmérnök 9%, Budapest Eljárás és berendezés gyorsan változó periodikus villamos jelek jelalakjának mérésére és kiértékelésére I A találmány tárgya eljárás gyorsan változó periodikus villamos jelek jelalakjának mérésére és kiértékelésére, amelynek során a periodikus villamos jelből a mintavételi elv alapján mintákat veszünk. A találmány vonatkozik az eljárás fogana- 5 tosítására alkalmas berendezésre is. A találmány szerinti megoldás a villamos méréstechnika, ezen belül különösen a nanoszekundumos impulzustechnika területén alkalmazható. Elektronikus berendezések gyártásánál és vizsgá- 10 latánál a működési idő lerövidülése miatt a nagy sebességgel változó villamos impulzusok jelalakjának pontos meghatározása egyre inkább szükségessé válik. A nanoszekundumos impulzustechnikában a méréseket a mintavételi elv alapján mérik, vagyis 15 igen rövid tűimpulzusokkal a vizsgálandó jel egymást követő periódusai során mintát vesznek a jel különböző értékeiről. Ilyen mintavételi elven működő jelalakvizsgáló berendezés pl. az E—H Laboratories (USA) vállalat AMC-1100 típusjelzésű ké- 20 szüléké. Ez a berendezés a mintavett jelet oszcilloszkóp képernyőjén megjeleníti, és az impulzus jellemzőket (fel- és lefutási idő stb.) a felrajzolt kép alapján, különböző komparátorok működtetésével határozza meg. 25 Az ismert berendezések mérési elvéből következik, hogy a kiértékelés és a mérés egyidejűleg történik, és a feladatok esetleges megváltozásakor újabb mérést kell végezni, tehát újabb paraméter nyeréséhez újabb mérésre van szükség. Az igen 30 2 rövid ideig tartó jelek mintavételes mérésénél a mintavétel során jelentkező mintavételi bizonytalanságok korlátot szabnak a mérés pontosságának és a legmagasabb mérési frekvenciának. Az ingadozások kiegyenlítésére ezért a mintavett jelből több, sokszor több tíz vagy száz periódusra vonatkozó átlagolást végeznek, és a mérendő paramétert a mintavett jel átlagolt értékeiből határozzák meg. Az ilyen jellegű átlagolás a mérés pontosságát észrevehetően nem tudja megnövelni, mert az egymást követő mintavett jelperiódusok egymással nem teljesen azonosak, az átlagolás a mérésbe standard hibát vihet be. Az átlagolásos mérés időtartama ezenkívül nagyon hosszú, mert az átlagolás elvégzéséhez a mintavett jelből több tíz, vagy száz teljes periódusra van szükség. A nanoszekundumos impulzustechnika területén a mért értékeket a mérőeszközök ideálistól eltérő tulajdonságai is eltorzítják, ezért a mért jelek nem azonosak a mérendő jelekkel. A mérési körülményeknek a mérési eredményre gyakorolt hatását az ismert mérőrendszerekkel nem lehet kiküszöbölni. A találmány feladata olyan eljárás és berendezés létrehozása gyorsan változó villamos jelek mérésére és kiértékelésére, amelynél a mérés csupán egyetlen mintavételi periódus idejéig tart, amely lehetővé teszi a mintavétel során jelentkező jelingadozások korrekcióját, a mérési körülmények hatásának kiküszöbölését és egyetlen mérés alapján különböző mérési feladatok elvégzését. A találmánnyal eljárást 175460
