175262. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés anyagok termikus analízisére
13 175262 14 tükörrel egybeépített vetítőizzók, amelyek a mintatartókat magában foglaló, vízzel hűtött alumínium 20 tömb két, gumi 25a és 25b tömítéssel ellátott 22a ill 22b ablaka alatt vannak, mely ablakok vagy 2 mm vastagságú kvarcüvegből, vagy pl. UG6 típusú optikai szűrőüvegből készülnek. Ez utóbbi UG6 ablak a teljes látható tartományt kiszűri és kb. 30%-os teljesítménycsökkenést eredményez az elérhető maximális hőmérsékletnél. Az la ill. lb mintatartó és a 2a ill. 2b sugárforrás között elhelyezett 9a ill. 9b elem ugyancsak 0,1 mm vastagságú platina lemezből készült, 11 mm átmérőjű körlemez, amely 127 db 0,5 mm átmérőjű 0,8 mm középtávolságú lyukat tartalmaz hatszöges elrendezésben, 8a ill. 8b hőmérséklet érzékelője pedig a lemez mintatartó felőli oldalára hegesztett ugyancsak Kromel-Alumel termoelem. Az la ill. lb mintatartó és a 9a ill. 9b elem távolsága 0,8 mm. A villa alakú, 36% Ni tartalmú, kis hőtágulású acélból készült 6a ill. 6b tartószerkezetre — melyek a sugárzástól árnyékolt helyen vannak - a 26A ill. 42 karra merőleges irányban ráhegesztett 0,5 mm vastagságú platina huzalból levő 5 tartóelemek tartják egyrészt a ráhegesztett la ill. lb mintatartót, másrészt két-két 0,3 mm vastag platina 10a ill. 10b tartóhuzal közbeiktatásával a 9a ill. 9b elemet alkotó perforált lemezt. A találmány szerinti berendezés egy kiviteli alakjánál az elérhető hőmérséklet kvarcüveg ablakkal 1 at nyomású levegőben 750 °C, és 50 °C/perc le- és felfűtési sebességnél a szabályozhatóság reprodukálhatósága jobb mint 0,1 °C, továbbá üres vagy semleges anyagot tartalmazó mintatartóval a két mintatartó hőmérsékletének együttfutása ±0,15°C-nál jobb. A mérleg a hőmérsékletfüggő légkonvekció valamint a magasabb hőmérsékleten már jelentősebbé való hőtágulás következtében a 20—750 °C tartományban 1 at levegőjű mintatérben minta nélkül ±25 mikrogram reprodukálhatóságú, és kb. 0,5 mg maximális értékű figyelembevehető mérési hibát mutat. A termikus időállandó spontán hűlésnél a fenti körülmények között kb. 8 másodperc volt. Szabadalmi igénypontok: 1. Eljárás anyagok termikus analízisére, amelynek során vizsgálandó legalább egy mintát és egy referencia anyagot előírt hőmérsékletprogram szerint sugárzás útján történő hőközléssel hevítünk, és mérjük a legalább egy minta hőtartalmának megváltozását, azzal jellemezve, hogy a legalább egy minta és a referencia anyag mindegyikének hevítését külön-külön sugárforrással végezzük, a legalább egy minta és a hozzátartozó legalább egy sugárforrás, valamint a referencia anyag és a hozzá tartozó sugárforrás közé a sugárzást részben áteresztő egy-egy elemet helyezünk, mérjük eme elemek közötti hőmérsékletkülönbsége(ke)t, és a legalább egy sugárforrás sugárzási intenzitását a mért hőmérsékletkülönbség(ek)nek megfelelően is szabályozzuk. (Elsőbbsége: 1977. 04. 14.) 2. Az 1. igénypont szerinti eljárás foganatosítási módja, azzal jellemezve, hogy a legalább egy minta és a referencia anyag sugárzás útján történő hevítését termosztált térbe kívülről bevezetett sugárzással végezzük. (Elsőbbsége: 1077. 04. 14.) 3. Az 1. vagy 2. igénypont szerinti eljárás foganatosítási módja, azzal jellemezve, hogy a legalább egy mintát és a referencia anyagot a hozzájuk tartozó sugárforrásoktól hőáramlás és hővezetés szempontjából elszigeteljük. (Elsőbbsége: 1977. 04. 14.) 4. Az 1—3. igénypontok bármelyike szerinti eljárás foganatosítási módja, azzal jellemezve, hogy a legalább egy minta hevítését legalább a mintát befogadó mintatartó méretének megfelelő méretű sugárnyalábbal végezzük. (Elsőbbsége: 1977. 04. 14.) 5. Az 1-4. igénypontok bármelyike szerinti eljárás foganatosítási módja, azzal jellemezve, hogy a hőtartalom mérése mellett mérjük a legalább egy minta tömegének megváltozását is. (Elsőbbsége: 1977. 04. 14.) 6. Berendezés anyagok termikus analízisére, amely berendezésnek a vizsgálandó mintát befogadó első mintatartója, referencia anyagot befogadó második mintatartója, az első és a második mintatartót sugárzás útján előírt hőmérsékletprogram szerint hevítő készüléke és az első és második mintatartó hőmérsékletkülönbségét mérő és/vagy regisztráló készüléke van, azzal jellemezve, hogy az első mintatartót (lb) hevítő első sugárforrása (2b), a második mintatartót ,(la) hevítő második sugárforrása (2a), az első mintatartó (lb) és az első sugárforrás (2b) között elhelyezett, a sugárzást részben átengedő első eleme (9b), a második mintatartó (la) és a második sugárforrás (2a) között elhelyezett, a sugárzást részben átengedő második eleme (9a), továbbá az első és a második sugárforrást (2b, 2a) együttesen az előírt hőmérsékletprogram szerint vezérlő első szabályozóköre, és az első sugárforrást (2b) az első és a második elem (9b, 9a) hőmérsékletkülönbségének megfelelően vezérlő második szabályozóköre van. (Elsőbbsége: 1977. 04. 14.) 7. A 6. igénypont szerinti berendezés kiviteli alakja, azzal jellemezve, hogy az első sugárfonás (2b) — célszerűen izzólámpa — sugárzását az első mintatartóra (lb) fókuszáló első optikai rendszere (3b), és a második sugárforrás (2a) - célszerűen izzólámpa — sugárzását a második mintatartóra (la) fókuszáló második optikai rendszere (3a) van. (Elsőbbsége: 1977. 04. 14.) 8. A 7. igénypont szerinti berendezés kiviteli alakja, azzal jellemezve, hogy az optikai rendszer (3b, 3a) a sugárforrás (2b, 2a) látható sugárzásának legalább egy részét kiszűrő optikai szűrőt (7) tartalmaz: (Elsőbbsége: 1977. 04. 14.) 9. A 6—8. igénypontok bármelyike szerinti berendezés kiviteli alakja, azzal jellemezve, hogy a sugárzást részben átengedő elem (9b, 9a) fém anyagú háló vagy perforált lemez. (Elsőbbsége: 1977. 04. 14.) 10. A 6—9. igénypontok bármelyike szerinti berendezés kiviteli alakja, azzal jellemezve, hogy a sugárzást részben átengedő elem (9b, 9a) a megfe5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 7
