174979. lajstromszámú szabadalom • Félvezető eszköz

5 174979 alkot. A P típusú, szilícium epitaxiális 3 második réteg, az N típusú, szilícium epitaxiális 4 első réteggel alkotja az emitter-bázis 13 átmenetet és a 4 első réteg a 200 negyedik réteggel együtt, amint már korábban megmagyaráztuk, további 14 PN átmenetet alkotja. Az emitter-bázis 13 átmenet és a 14 PN átmenet közötti távolság célszerűen 2 és 5 mikron közötti. A 3. ábra találmányunk másik kiviteli alakját mu­tatja, ahol az 1. ábrán bemutatott NPN tranzisztort integrált áramkörben láthatjuk más félvezető elemek­kel együtt, például PNP tranzisztorokkal. Az integrált áramkör, amint látható, két különböző tranzisztort tartalmaz, például komplementer tranzisztorként, ne­vezetesen 21 NPN tranzisztort és 22 FNP tranzisztort. Ezt a két tranzisztort közös, P típusú, szilícium 20 hordozón alakítottuk ki. Amint ezelőtt az 1. ábra kapcsán megmagyaráztuk, a 21 NPN tranzisztornak erősen szennyezett la kollektor rétege, gyengén szennyezett 2a kollektor rétege, gyengén szennyezett 3a bázis rétege, gyengén szennyezett 4a emitter réte­ge, erősen szennyezett 5a emitter érintkezési terüle­tet, 6a kollektor hozzávezetést, 15 kollektor érintke­zési területet, 7a bázis hozzávezetést, 8a bázis érintke­zési területet, a 200 negyedik réteget az alumínium 9 kollektor elektródát, az alumínium 10 bázis elektró­dát és az alumínium 11 emitter elektródát tartalmaz­za. A 22 PNP tranzisztor P típusú 33 kollektorral, N típusú 34 bázissal, P típusú 38 emitterrel, P típusú 37 kollektor hozzávezetéssel, P tipusú 48 kollektor érint­kezési területtel, N típusú 35 bázis érintkezési terület­tel, 39 kollektor elektródával, 40 bázis elektródával és 41 emitter elektródával rendelkezik. A 21 NPN és a 22 PNP tranzisztorokat a PN átmenetek szigetelik el egymástól galvanikusan. A P típusú 50 szigetelő tartomány csatlakozik a P típusú szilícium 20 hordozóra és körülveszi mind a 21 NPN, mind a 22 PNP tranzisztorokat. A három, N típusú 31, 32 és 36 réteg kupa alakú szigetelő tartományt alkot, amik csupán a 22 PNP tranzisztort viszik körül. Ebben az integrált áramkörben, nagyszámú párosokat és hármasokat alakítunk ki egyidejűleg, például az la és 2a kollektorréteg és a 3a bázisréteg, amik N+ típusúak, szelektív diffúzióval lettek kialakítva a P típusú 20 szilícium hodrozón. A 2a kollektorréteg és 32 réteg N típusú epitaxiális növesztéssel lettek kiala­kítva. A 21 NPN tranzisztor gyengén szennyezett 3a bázis rétege, ami P tipusú és a P típusú 33 kollektor akár epitaxiális növesztéssel, akár szelektív diffúzióval alakítható ki. A gyengén szennyezett 4a emitter réteg, ami a 21 NPN tranzisztorban N típusú és a 22 PNP tranzisztor N tipusú 34 bázisa, epitaxiális növesztéssel alakítható ki. A 6a kollektor hozzávezetés és 36 réteg epitaxiális növesztéssel alakítható ki. A 7a bázis hoz­závezetés és 37 kollektor hozzávezetés, P típusú diffú­zióval alakítható ki. A 21 NPN tranzisztorban a 8a bázis érintkezési terület, ami P+ típusú, a P típusú 200 negyedik réteg, valamint a 22 PNP tranzisztor P típusú 38 emittere, P típusú diffúzióval alakítható ki. Az 5a emitter érintkezési területet és a 35 bázis érintkezési területet diffúzióval lehet kialakítani. A 4. ábra a találmány harmadik kiviteli alakját mutatja, ahol további 201 réteg csatlakozik a 7a bázis hozzá vezetéshez és a gyengén szennyezett 3a bázis réteghez. Az alumínium 10 bázis elektróda nem csu­pán a 7a bázis hozzá vezetéshez, de a további 201 réteghez is csatlakozhat. Az 5. ábra a találmány negyedik kiviteli alakját mutatja, ahol MIS (fém- szigetelő-félvezető) hordozót alkalmazunk a gyengén szennyezett 4a emitter réteg felületén. Az alumínium 42 kapu elektróda és szilí­cium dioxid 41 emitter elektróda együtt alkotja a gyengén szennyezett 4a emitter réteggel a MIS konst­rukciót. Az alumínium 42 kapu elektródára előre meghatározott feszültséget adva, 202 gát alakul ki a szilícium dioxid 41 emitter elektróda mögött. Ez egy visszafordító, kiürítő, vagy gyűjtő réteg szerepét tölti be. A 6. ábra a találmányunknak ötödik kiviteli alakját mutatja be, amelyben 203 Schottky gát réteget alakí­tottunk ki a gyengén szennyezett 4a emitter réteg felületén. Megfelelő 51 fémet, például platinát vi­szünk fel a gyengén szennyezett 4a emitter rétegre és ez fogja a Schottky gátat kialakítani. A 2. ábra az 1. ábrán bemutatott eszköz szennye­­ződési karakterisztikáját, valamint a kisebbségi töltés­­hordozó koncentrációt mutatja be az emitter tarto­mányban. Az ábra felső része az 1 hordozó N+ szennyezését, a 2 harmadik réteg, a 3 második réteg, a 4 első réteg és a 200 negyedik réteg szennyyeződés eloszlását mutatja. Ezen tartományok szennyeződés koncentrációját láthatjuk az ábra középső részén, míg az ábra alsó része az injektált kisebbségi töltéshordo­zó koncentrációt mutatja az emitterben, ami a kisebb­ségi töltéshordozók kombinált értéke, ami a P típusú, szilícium epitaxiális 3 második rétegből, a bázisból, a PN átmenetből, - ami elválasztja a P típusú 200 negyedik réteget és az emittert - származik. Ponto­sabban, az a komponens, amit az emitter-bázis 13 átmenetből származó kisebbségi töltéshordozók alakí­tanak ki a 101 ferde vonallal, míg az a komponens, amit a 14 PN átmenetből származó kisebbségi töltés­hordozók alakítanak ki a 102 ferde vonallal jellemez­hető az ábrán. Mivel az injektált kisebbségi töltéshor­dozók ellentétes irányban folynak, ezek egymás kiol­tására törekszenek, és ennek eredményeként alakul ki a lényegében egyenletes, vagy szinttartó 103 vonal. Ez a karakterisztika az, ami biztosítja a nagyon magas hpE tényezőt és az alacsony zajszintet az eszközben. Ennek kissé részletesebb magyarázata érdekében meg­jegyezzük, hogy a kisebbségi töltéshordozók (a lyu­kak), amelyek az emitter-bázis 13 átmeneten injektá­­lódnak keresztül, elérik a 14 PN átmenetet és belép­nek a P típusú 200 negyedik rétegbe. Másrészről a P típusú 200 negyedik réteg ugyancsak injektált lyuka­kat az N típusú, szilícium epitaxiális 4 első rétegbe, az emitterbe, és ezek a lyukak áthaladva az emitter réte­gen, elérik az emitter-bázis 13 átmenetet, mivel az injektált diffúziós hossz (WE) kisebb mint az N típu­sú, szilícium epitaxiális 4 első rétegnek, az emittemek a vastagsága. Amikor a P típusú 200 negyedik réteg­ből származó lyuk-injektálás eléggé nagy, a lyukáram, ami a 14 PN átmenetből származik és az emitter bázis 13 átmenethez jut, kompenzálja az emitter-bázis 13 átmenetből származó lyukáramot a 14 PN átmenet­nél. Ez a kompenzáció az N típusú emitterben a lyukáram eloszlását alapvetően egyenletessé teszi és csökkenti a gyengén szennyezett 3a bázis rétegből a gyengén szennyezett 4a emitter rétegbe irányuló lyukáramot. 6 3 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65

Next

/
Thumbnails
Contents