174653. lajstromszámú szabadalom • Nagyfrekvenciás raszter szabálytalan raszterelem-struktúrával és eljárás a raszter előállítására

3 174653 4 Az ilyen raszternak körülbelül 25 mm—‘-es felol­dóképessége van, képes diszkrét képeknek a regisztrá­ló fotografikus rétegen történő létrehozására és feke­­tedési tartományának átvitele 1,0 és 1,2 között van. A szabálytalan raszterelem-struktúrájú nagyfrek­venciás rasztert célszerűen olyan eljárással állíthatjuk elő, amelynek során egy üveglap mindkét oldalát hidrogén-fluoriddal maijuk, és az üveglapot a talál­mány szerint a marást megelőzően mindkét oldalán egyenletes felületi struktúra eléréséig csiszoljuk, az ezt követő marást pedig többszörösen megismételjük, míg végül 0,20 és 0,26 pm között lévő felületi érdességi Ra értéket kapunk. A javasolt eljárás következtében olyan átlátszó rasztert kapunk, amely a regisztráló fotografikus rétegen képes nagyfrekvenciás raszterkép létrehozásá­ra, feloldóképessége 26 mm—1 értékű, feketedési tartománya pedig 1,0 és 1,2 között van. Az üveglapot a találmány szerint legalább három­szor maijuk. Ha az üveglapot háromnál többször marjuk, ezzel biztosíthatjuk az adott érdességi érték egyenletes felületi eloszlását is. A találmány egy kiviteli változata szerint az üveglapot olyan oldatban maijuk, amely négy tér­fogategység hidrogén-fluoridot és egy térfogategység kénsavat tartalmaz. A találmány egy másik változata szerint az üvegla­pot olyan oldatban maijuk, amely három térfogat­­egység hidrogén-fluoridot és egy térfogategység fosz­forsavat tartalmaz. A találmány egy újabb változata szerint az üvegla­pot olyan oldatban marjuk, amely négy térfogat­­egység hidrogén-fluoridot, egy térfogategység kénsa­vat és egy térfogategység vizet tartalmaz. A fenti oldatok alkalmazása lehetőséget nyújt a teljes lapfelület egyenletes marására, és egyértelmű érdességi elosztás létrehozására. A találmányt a továbbiakban részletesebben újuk le, amelyből a szabálytalan raszterelem-struktúrájú nagyfrekvenciás raszter további előnyös tulajdonságai és az ilyen raszterek előállítási módja jobban kitűnik. A szabálytalan raszterelem-struktúrájú nagyfrek­venciás rasztert plánparallel üveglapból készítjük, amelynek mindkét felületén azonos felületi érdesség mérhető, amelynek értéke 0,20 és 0,26 /am között van. Az érdesség mértékét ismert módon egy Ra értékkel jellemezzük, amely a közepes profilvonaltól számítót kvandratikus eltérések átlagát jelenti. A találmány szerint javasolt raszternél az említett érdességhez a teljes üveglapfelületen azonos statiszti­kus Ra átlagérték tartozik, és ezzel a raszterkép statisztikus átlagkarakterisztikájának homogén jelle­get biztosítottunk. A raszter nagy értékű, körülbelül 25 mm‘-es felol­dóképességét, a raszterral visszaadható normális ér­tékű feketedési tartományt és azt a tulajdonságot, amely szerint a raszter képes a regisztráló fotografikus rétegen diszkrét képszerkezet létrehozására, azáltal éljük el, hogy a raszter felület átlátszó és érdességé­nek Ra értéke 0,20 és 0,26 /am között van. A találmány szerint a szabálytalan raszterelem­­-struktúrájú nagyfrekvenciás rasztert az alábbi úton hozzuk létre. Egy 1 és 10 mm közötti vastagságú plánparallel üveglapot mindkét oldalán csiszolunk, és ezáltal lehetővé tesszük, hogy a felületen az érdességnek mindenütt azonos statisztikusan Ra értéke legyen amely paraméter határozza meg a raszterral készített raszterkép raszterelemeinek méreteit és frekvenciáját. Ezzel a kezeléssel az üveglap felületi finomszerkezet azonban még matt marad, és az ilyen finomszerkezetű raszterek alkalmazásánál fényszóródás következik be amely a féltónusos kép feketedési tartományát csök­kenti. Abból a célból, hogy javított átlátszóságú felületi érdességet kapjuk, a csiszolt felületet marásnak kell alávetnünk. Marószerként, mint megállapítottuk, a találmány szerint célszerű olyan oldatot alkalmazni, amely négy térfogategység hidrogén-fluoridot, és egy térfogategység kénsavat tartalmaz, vagy olyan olda­tot, amely három térfogategység hidrogén-fluoridot és egy térfogategység foszforsavat tartalmaz vagy olyan folyadékot, amely négy térfogategység hidrogén­­fluoridot, egy térfogategység kénsavat és egy térfo­gategység vizet tartalmaz. A marást nagy felületi egyenletességű finonszerke­­zetű raszterstruktúra elérése céljából többször meg­ismételjük. Az üveglapot célszerűen legalább három­szor maijuk. Az üveglap egyszeri marása eredményeként durva­­szemcsézetű felületet kapunk, és ez csökkenti a raszter feloldódépességét és rontja a raszterkép vizuá­lis áttekinthetőségét. A marást öblítéssel felváltva végezzük. A kezelést egészen addig végezzük, ameddig átlátszó, és 0,20 és 0,26/am közötti Ra érdességi értékű felületet nem kapunk, amely már alkalmas a regisztráló rétegen diszkrét kép létrehozására is. Ezen kombinált kezeléssel olyan szabálytalan rasz­­terelemstruktúrájú nagyfrekvenciás rasztert hozunk létre, amely nagy értékű 25 mm—‘-es feloldóképes­séggel, 1,0 és 1,2 közötti normál átvitt feketedési tartománnyal és szabálytalan (felületét, alakját és számát tekintve változó) raszterelemekből alkotott finomszemcsés diszkrét struktúrájú leképzési tulaj­donságokkal rendelkezik. A találmány szerinti rasztert kontaktmásoló be­rendezésekben alkalmazhatjuk. Az átlátszó nagyfrek­venciás rasztert felhasználhatjuk művészi képek repro­dukcióinál, geometriailag bonyolult leképzések eseté­ben és kis képrészletek gyakori előfordulásakor, mivel az ilyen raszter nagy feloldóképessége és kis moaré­­képzése következtében az átviteli pontosság megnöve­lését teszi lehetővé. 1. példa Plánparallel üveglap mindkét oldalát csiszolópor felhasználásával 40 percen át csiszoljuk. Gondos öblítés után a csiszolt lapot az alábbi összetételű oldatban vegyi kezelésnek vetjük alá: négy térfogat­­egység hidrogén-fluorid, egy térfogategység kénsav. A marást és az ezt követő öblítést öt ízben meg­ismételjük. Az üveglap felülete ekkor átlátszóvá válik és érdességének Ra értéke 0,22 /am lesz. Az említett kezeléssel olyan szabálytalan rasztere­lem-struktúrájú átlátszó rasztert kapunk, amelynek feketedési tartománya 11 és 1,2 között van és feloldóképessége 25 mm—f értékű. 2. példa Plánparallel üveglap mindkét oldalát csiszolópor felhasználásával 40 percen át csiszoljuk. Gondos öblí­tés után a csiszolt lapot az alábbi összetételű oldatban 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 2

Next

/
Thumbnails
Contents