167487. lajstromszámú szabadalom • Töltés-csatolású félvezető eszköz és eljárás annak előállítására

3 167487 4 igen tág határok között -pl. -10 V-tól+15V-ig­tetszőlegesen változtatható, és a maximálisan tárol­ható töltésmennyiség tipikusan kb.6'1012, q* • cm"2 , ahol q az elektron töltése (ld. [5-10]). Ezen jelenség felhasználása alapján C. A. T. 5 Salama és P. P. Gelberger két- [11], sőt egyfázisú [12] CCD-rendszer elkészítésére tettek javaslatot. Az általuk ismertetett rendszerek lényeges hátránya azonban, hogy a fotolitográfiai maszkok rendkívül pontos illesztése szükséges ahhoz, hogy a káros 10 potenciálgátak ill. -gödrök fellépését megakadá­lyozzák, illetve a [11] közleményben szemléltetett esetben, amikor az egymást követő maszkok kö­zött átfedés van, ugyancsak hátrányos többlet-po­tenciálgödör jelenik meg az elkerülhetetlen pontat- 15 lanságok következtében. A találmánnyal azt a célt tűztük ki, hogy olyan töltés-csatolású félvezető eszközt készítsünk, amely­ben nem lépnek fel az ismert megoldásoknál jelentkező káros potenciálgödrök, illetve -gátak, 20 ezáltal a töltéstovábbítási hatásfok jobb, ugyan­akkor előállítása egyszerű és kézbentartható tech­nológiai lépésekkel történik. A találmány szerint ezt azáltal érjük el, hogy az eszköz elektródarendszerét két lépésben oly módon 25 alakítjuk ki, hogy minden esetben biztosítva legyen az elektródarendszer és a félvezető hordozó szük­séges relatív helyzete (self-aligning). A találmány tehát egyrészt töltés-csatolású fél­vezető eszköz, amelynek félvezető hordozón kiala- 30 kított töltött szigetelőrétege, a szigetelőrétegen lévő elektródarendszere és az elektródarendszerhez, vala­mint a félvezető hordozóhoz csatlakoztatott kive­zetései vannak, és az jellemzi, hogy az elektróda­rendszer egymáshoz képest egyenlő hézagokkal 35 elhelyezett elektródáit két vezetőréteg alkotja, ahol a második vezetőréteg az első vezetőréteget részben fedi, részben túlnyúlik azon. A találmány szerinti félvezető eszköz egy előnyös kiviteli alakjában a félvezető hordozóban a kiürülési tartomány vastag- 40 sága az elektródák első vezetőrétege alatt nagyobb, mint a félvezető hordozó egyéb részein. Az elektródákat alkotó két vezetőréteg egymástól kü­lönböző anyagú is lehet, és előnyösen oly módon van megválasztva, hogy az elektródák első vezető- 45 rétegét részben fedő második vezetőréteg anyaga az első vezetőréteget meg nem támadó marószerrel eltávolítható fém. A találmány másrészt eljárás töltés-csatolású félvezető eszköz előállítására, ahol a félvezető 50 eszköznek félvezető hordozón kialakított töltött szigetelőrétege és a szigetelőrétegen lévő elektróda­rendszere van, és az jellemzi, hogy a félvezető hordozón villamosan tölthető szigetelőréteget ala­kítunk ki, a szigetelőrétegre első vezetőréteget 55 viszünk fel, ebből egymástól hézagokkal elválasz­tott elektródákból álló elektródarendszert alakítunk ki, ezután az elektródarendszerre feszültségimpul­zust adunk, majd az elektródák legalább egyik szélét változatlanul hagyva, második vezetőréteg 60 szelektív felvitelével valamennyi elektródát legalább az egyik irányban megszélesítjük. A találmány szerinti eljárás egy előnyös foganatosítási módjánál a feszültségimpulzus ráadása után az elrendezésre második vezetőréteget viszünk fel, amelyből masz- 65 kolási technikával, az első vezetőréteg anyagát meg nem támadó marószer alkalmazásával az elektró­dákat részben fedő második rétegelrendezést ala­kítunk ki. Ezt célszerűen úgy végezhetjük, hogy az elektrödarendszert maszkolási technikával alakítjuk ki, és a második rétegelrendezés kialakításánál az elektródarendszernél alkalmazott maszknak a szom­szédos elektródák közötti hézagnál kisebb eltolá­sával készített maszkot alkalmazunk. Elkészíthetjük azonban ugyancsak a találmány szerint a töltés­-csatolású félvezető eszközt ún. „stripping" mód­szer alkalmazásával úgy is, hogy a feszültség­impulzus ráadása után az elrendezést fotoreziszt­lakkal fedjük be, a lakkrétegen az alatt lévő elektródákkal részben fedésben ablakokat nyitunk, ezután felvisszük a második vezetőréteget, majd a felesleges vezetőrétegrészeket a fotorezisztlakkal együtt eltávolítjuk. A találmány szerinti eljárás során a félvezető hordozóban már a szigetelőréteg kialakításának hatására is létrejöhet kiürülési tar­tomány, előnyösen azonban az eljárás során a kiürülési tartomány kialakulását még járulékos feszültségimpulzus alkalmazásával elősegíthetjük. Célszerűen ez úgy történhet, hogy vagy az első vezetőréteg felvitele után a vezetőrétegre feszültség­impulzust adunk, majd az eljárást az elektróda­rendszer kialakításával folytatjuk, vagy az elekt­ródarendszer kialakítása után az elrendezésre to­vábbi vezetőréteget viszünk fel, a további vezető­rétegre feszültségimpulzust adunk, a további ve­zetőréteget az első vezetőréteg anyagát meg nem támadó marószerrel eltávolítjuk, majd az eljárást az elektródarendszerre való feszültségimpulzus ráadá­sával folytatjuk. A találmány szerinti töltés-csatolású félvezető eszköznek kedvezőek a töltéstovábbítási tulajdon­ságai, mivel a véges gyártási pontosság nem eredményez a félvezető hordozóban káros poten­ciálgödröket illetve -gátakat. Emellett a javasolt előállítási eljárás nem támaszt szigorú fotolitográfiai követelményeket az elektródarendszer kialakí­tásánál. A találmányt a továbbiakban a rajzokon szem­léltetett kiviteli alakok alapján ismertetjük részle­tesebben. Az ábrákon a méretarányok a szemléletes ábrázolás érdekében erősen torzítottak. Az 1. ábra a találmány szerinti félvezető eszköz előállítási folyamatát mutatja az eszköz vázlatos metszeti rajzaival. A 2. ábra a találmány szerinti félvezető eszköz egy kiviteli alakjának működését szemlélteti. Az ábrákon egy kétfázisú MNOS CCD elren­dezést ismertetünk, melynek lényege, hogy az elektródarendszert két egymást követő vezetőréteg felvitellel alakítjuk ki, ahol a második vezetőréteg az elsőt részben fedi, részben túlnyúlik azon, biztosítva ezáltal a „self-aligning"-ot. Az egymást követő technológiai lépéseket az 1. ábrán ábrá­zoljuk. Egy, pl. n-típusú lOohmcm fajlagos ellen­állású szilícium 1 hordozón először 20—100 Ä vastagságú Si02 első 2 szigetelőréteget, majd ezt követően 200-1000 Á vastagságú Si3 N 4 második 3 szigetelőréteget alakítunk ki. Ezt első 4 vezető­réteggel, ami lehet pl. felpárologtatott polikris­tályos szilícium, vagy molibdén, teljesen befedjük. 2

Next

/
Thumbnails
Contents