166296. lajstromszámú szabadalom • Eljárás optikai testek hibáinak kimutatására

3 166296 4 fény hatására működő fotocella kimenőjelét is regisztráljuk. Ha a vizsgálandó optikai test anyaga húzással készített üveg, akkor úgy szokás eljárni, hogy a fénysugarat az üveglapra bocsátó optikai rendszer fényrekeszét az üveglappal párhuzamosan mozgatják, vagyis az üveglap és az optikai rendszer közötti szakaszon változtatják az üveglapra eső fénysugár helyzetét. Ezáltal a húzás irányára keresztirányban keletkezett hibákat lehet kimutatni. Ez az eljárás nem alkalmas azonban arra, hogy a húzással készített optikai üvegtesteknek a különböző anyagösszetételnek betudható, változó törésmutatóját meg lehessen határozni. A találmány szerinti eljárás mindezeket a hiányosságokat kiküszöböli azáltal, hogy egy prizmának a törési szögét vagy egy vékony, párhuzamos síkokkal határolt üveglap optikai jellemzőinek változását mérjük meg, de alkalmas arra is, hogy optikai célokra használt üveglapok hibáit kimutassuk és a hibák mértékét megállapítsuk. A találmány szerinti megoldásnak megfelelő eljárással az iparban gyártott optikai testek optikai jellemzőit vizsgálhatjuk és gyártás közbeni ellenőrzését végezhetjük. A találmány szerinti megoldásnak megfelelően a fénysugarat egy optikai rendszerben levő tárgy-rekeszen keresztül bocsátjuk a vizsgálandó optikai test felületére oly módon, hogy a fénysugarat az optikai testre merőlegesen elhelyezett, adott térközű rekeszeken át vezetjük és a keskenyebb rekeszt az optikai test mellett helyezzük el, a rekeszek tengelyében az üveglapon áthaladó fénysugár intenzitás változásának mérésére pedig fényérzékelőt helyezünk el, majd a fényérzékelőn kapott jeleket regisztráljuk. A találmány szerinti megoldásnak megfelelő eljárást oly módon is foganatosíthatjuk, hogy a vizsgálandó optikai testre két, egymással párhuzamos fénysugarat bocsátunk. Az ezen megoldás szerinti eljárás foganatosítására alkalmas berendezésben, a tárgy-rekesz kétszer olyan széles, mint a fény-rekesz, mely a diafragma szerepét tölti be. E módszer révén keskeny fénycsíkot kapunk, mely csak egészen csekély mértékben van terhelve a fénytörés változásából eredő hibákkal, egyúttal pedig a folyamatos letapogatás révén olyan jelet kapunk a fényérzékelőn, amely a hiba természetére is utal. A találmány szerinti megoldásnak megfelelő eljárások és ezek bármelyikét megvalósító berendezést a leíráshoz mellékelt rajzok segítségével részletesebben, egy előnyös kiviteli példa^kapcsán magyarázzuk meg. A rajzokon 1. ábra a találmány szerinti megoldáshoz szükséges berendezés egyik kiviteli példáját ábrázolja, melynek segítségével fénysugárral vizsgáljuk a testet. A vizsgált test metszetben látható — természetesen erősen nagyítva — de ez csupán a könnyebb érthetőség kedvéért van így. A 2. ábra az 1. ábrán látható elrendezés egy részletét felülnézetben mutatja be. Ezen az ábrán láthatjuk a fényrés és a tárgyrés arányait és egymáshoz viszonyított helyzetét. A 3. ábrán kinagyítva és vázlatosan láthatjuk a fotocellát. A 4. ábra az 1. ábrához hasonló, de a találmány szerinti megoldásnak egy másik kiviteli változatát mutatja be, ahol az üveglapon két, egymástól tükrös visszaverődéssel elválasztott, a testen áthaladó fénysugár van ábrázolva. Az 5. ábrán a találmány szerinti megoldásnak egy további 5 kiviteli alakját láthatjuk, mely szerint az üveglap előtt levő síkon verődik vissza az egyik fénysugár, míg a másik fénysugár két sík között haladva az alsó határoló síkról verődik vissza. A 6. ábra a fotocellából kilépő jel útját alkotó kapcsolási 10 elrendezés kapcsolási vázlatát mutatja. A 7., 8. és 9. ábrákon pedig felülnézetben, oldalnézetben és elölnézetben láthatjuk a találmány szerinti megoldásnak megfelelő eljárás foganatosításához alkalmas berendezést. A 15 10. és 11. ábrákon olyan részletrajzokat látunk kinagyítva és metszetben, melyen a berendezés egyes részei találhatók. Ha már most az 1. ábrát nézzük — amelyen a jobb 20 érthetőség kedvéért az arányok torzítva vannak, s ennélfogva a fénysugarak divergenciája is aránytalan azok hosszúságához képest —, azt látjuk, hogy egy fénydobozban van a fényforrás és a tárgylencse (ezek nincsenek ábrázolva a rajzon), s a fényforrás homogén fénnyel vilá-25 gítja meg az 1 tárgyrekeszt, melynek AB résszélessége van, s amelyen keresztülhaladó fénysugarak valós fordított Ao Bo képet adnak. A 2 tárgylencse előtt és azzal párhuzamosan van kialakítva a zárt dobozon a 3 rekesz, közvetlenül a fénysugárnak a tárgylencsén át történt ki-30 lépési tartományában, mely arra szolgál, hogy a fénysugarat keskeny, fénycsíkká alakítsa, s így a későbbi analízis pontosabb legyen. A méretarányok szempontjából helyes, hogyha a tárgyrekesz legalább kétszerese a 3 rekesznek. Az Ao Bo kép síkjában egy 4 fotocella van |35 elhelyezve (ezt a 4 fotocellát, melynek kör alakú kiképzése van, a 3. ábrán láthatjuk). A fotocellát vázlatosan ábrázoltuk. A rajzon láthatjuk, hogy érzékelő tartománya két, megvilágított aktív szakaszra oszlik. Ez a két megvilágított 5, 5a szakasz a 6 mérőelektródában és két 40 darab 7 és 7a báziselektródában van, mely utóbbiakat egy semleges tartomány választja el egymástól, s ezeknek közös 8 tengelye párhuzamos az 1 tárgyrekesszel és a 3 rekesszel. A találmány szerinti megoldásnak megfelelő berende-45 zés arra alkalmas, hogy pontosan megmérje a fénysugár eltérésének szögét egy adott irányban, de csak abban az esetben, ha egészen kis szögről van szó. Nem lehet tehát közvetlenül mérni egy ismert törésmutatójú prizmának a törési szögét. Ezzel szemben mód van arra, hogy külön-50 böző prizmák törés-szöge közötti eltérést meg lehessen állapítani egy adott és ismert tulajdonságú prizmához viszonyítva, s ugyanakkor ezen prizmák hibáit is ki lehet mutatni. Az 1 tárgyrekeszen áthaladó fénysugár által alkotott 55 képet egy önmagában ismert és a rajzon nem ábrázolt képátalakítóra vetítjük, mely a képet átalakítja és megközelítően négyszögű alakot kölcsönöz neki. A 8 tengelyre vetített Ao—Bo kép nulla kimenőjelet gerjeszt. Tekintettel azonban arra, hogy az F üveglap, melyen a 60 keskeny fénysugár áthalad, esetleg hibás — mely hiba jelentkezhet az üveg törésmutatójában, vagy a határoló síkok nem teljes párhuzamosságában — a kép lefelé tolódik el és így az A'B' kép keletkezik: ennélfogva az adott esetben a megvilágított 5 szakaszra kevesebb fény 65 esik, mint az 5a szakaszra. A fotocella így egy olyan ki-2