164609. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és berendezés síküveg gyártására

33 164609 34 A 20. ábra a találmány szerinti síküvegből vett próbatest oldalél-felületének egy részéről készített anamorfikus fényképet mutat, amelyhez az oldalél-felületet a síküvegnek a húzási irányára merőleges elvágása útján állítottuk elő. Ezt a fajta 5 fotografikus úton készített képet sztriaszkópnak hívják. A fényképen a különböző törésmutatójú üvegrétegek mint különböző optikai sűrűségű csíkok jelennek meg és a különböző törésmutatójú 10 üvegrétegek eloszlását a fényképen látható kontúrvonalak jelzik, amelyek megfelelnek az egymással szomszédos rétegek közötti határfelületeknek. Megjegyezzük, hogy ezek a vonalak túlnyomórészt lényegében párhuzamosak. A vo- 15 nalak rendeződése olyan, hogy lapos ellipszisekből álló alaprendszerre . engednek következtetni, amelyek lényegében a húzott síküveg egyik szélétől a másikig terjednek. Ez a feltételezés főként abból származik, hogy enyhe görbületű 20 kifelé domború 186 görbék észlelhetők, amelyek a fénykép hosszirányában húzódnak, és hogy az egymással szembenfekvő lapos görbék végeit sokkal kisebb rádiuszú, viszonylag törésmentes 187 görbék zárják le. Érdemes megjegyezni, hogy 25 a 20. ábrán bemutatott valóságos esetben az említett, egymáson belül elhelyezkedő lapos ellipszisek lényegében közös központtal rendelkeznek, amely az üvegtábla egyik főfelülete felé eltolt helyzetű. A másik felülethez közelebb 30 elhelyezkedő vonalak felfoghatók úgy, mint nagyobb ellipszisekhez tartozó, enyhe görbületű, kifelé domború görbeszakaszok. A 20. ábrán feltüntetett megegyező síküvegpróbatestet vizsgáltunk interferencia-mikroref- 35 raktométerben, amelyben résszerű fényforrásból olymódon bocsátottuk ki a fényt, hogy egyenes, párhuzamos interferenciacsíkok sorozatát kapjuk. A lemezalakú próbatestet úgy helyeztük a fénysugár útjába, hogy a fénysugár a lemez egyik 40 oldalél-felületén lépett be, és a lemez szembenfekvő, párhuzamos oldalél-felületén lépett ki, és a lemez az interferencia-csíkokat 45°-os szögben metsző síkban volt elhelyezve. Az interferenciacsíkok a 21. ábrán feltüntetett módon jelentek 45 meg, azaz nem észleltünk kifejezett hibát vagy törést. Az interferencia-csíkokat metsző két ferde párhuzamos vonal az üveglemez főfelületeit szemlélteti. A találmány szerinti síküveg megkülönböztető 50 jellemzői -amint a 20. és 21. ábrák alapján kifejtettük- nyilvánvalóvá válnak, ha összehasonlítjuk a 22. és 23. ábrákkal. A 22. ábra a hagyományos Pittsburgh-típusú eljárássá húzott üvegből vett próbatest oldalél-felületének egy 55 részéről a 20. ábrának megfelelő képpel azonos körülmények között készített fényképet, un. sztriaszkópot mutat. A 23. ábra a hagyományos Pittsburgh-típusú eljárással húzott üvegből vett próbatest jelenlétének hatását mutatja az inter- 60 ferencia-csíkok alakulására, a 21. ábrán feltüntetett lemez vizsgálatánál is alkalmazott interferencia-mikrorefraktorméterrel, azonos körülmények között végzett vizsgálat során. Amint a 22. ábrából kitűnik, a kontúrvonalak egyáltalán 65 nem emlékeztetnek elliptikus rendszerre. A fénykép egyes részein a vonalak konvergálnak és hegyesszöget alkotnak, ellentétben a 20. ábrán látható, viszonylag törésmentes görbékkel. Az interferencia-mikrorefraktornéter fénysugarába helyezve, az üveglemez az interferencia-csíkokban feltűnő 189 hibát vagy törést okozott, amint ez a 23. ábrán látható. Ez a törés jelzi a síküveg vastagságában középen elhelyezkedő szomszédos üvegrétegek között a törésmutató hirtelen változását. A 24. ábra hagyományos Iibbey-Owens eljárással húzott síküveg felületén megjelenő tipikus hibavonal, un. „brush line" képét szemlélteti. Ezeket a hibavonalakat az ismert Fizeau sávok segítségével, interferometrikus vizsgálat során mutatták ki. A vizsgálandó üveglemezt csiszolt üveglapon helyezzük el olymódon, hogy a két lemez egymással rendkívül kis szöget zár be. A két lemez metszésvonalának merőlegesnek kell lennie a vizsgálandó üveglemez húzási irányára. A csiszolt üveglapnak olyan síknak kell lennie, hogy a vastagságtűrés A/4 tartományon belül legyen. E csiszolt üveglap felületeinek lényegében tökéletesen párhuzamosaknak kell lenniük. Ha a két, ilymódon elhelyezett üveglemezt olyan sugaraknak tesszük ki, amelyek felületeikre lényegében merőlegesek, a visszaverődő sugarak felváltva fehér és fekete sávokból álló képet alkotnak, amint ezt a 24. ábra mutatja. Minden egyes fekete vonal a lemez azonos vastagságú vonalát képviseli. Ezek az egyenlő vastagságú vonalak nagy frekvenciájú kis hullámokat mutatnak, amelyeket nevezhetünk „fűrészfogaknak". Ezeknek a „fűrészfogaknak" a jelenléte jelzi a „brush line"-típusú hiba meglétét, és azt is kimutatja, hogy ez a hiba nagyon kicsiny, 0,3 mm vastagságú és 0,1-1,0 mm szélességű hullámok nagyságrendjébe esik. Amikor a találmány szerinti síküveg két főfelületét vetettük alá egymás után ilyen vizsgálatnak pontosan ugyanolyan módon, mint a Libbey-Owens eljárással húzott üvegből vett próbatestet, egyik felületen sem észleltünk hibavonalakat. Az említett vizsgálatnak alávetett, találmány szerinti síküveg-próbatestet olyan, a találmány szerinti eljárással húzott síküvegből vettük, amelynél a kemencében tartózkodó üvegolvadékban hőgátat alkalmaztunk a húzási zónától közvetlenül hátrafelé elhelyezkedő tartományban. A „brush line" jelenséget olyan módszerrel is vizsgálhatjuk, hogy a visszaverődés jelenségét felhasználva fénysugár-nyalábot bocsátunk az üveglap felületére mintegy 65°-os beesési szög alatt, amely sugárnyaláb tengelye a felületre merőleges síkban és az üveg húzási irányára is merőlegesen helyezkedik el és a vizsgált felületről a fénysugarakat visszaverjük az üveglaptól kb. 1 m távolságra elhelyezett, a fényt szóró ernyőre. A 20. és 21. ábrák szerinti fényképeket a 25. ábrán vázlatosan feltüntetett csikozásvizsgáló (sztriaszkóp) készülékkel készítettük. Ez a készülék tartalmaz egy fehér izzású 191 fényforrást, a fényforrás közelében elhelyezett 192 akromatikus gyűjtőlencsét, 192 tárgylencsét, a 193 Foucaultrendszert és a 194 maszkot, amelyben függő-17