164056. lajstromszámú szabadalom • Automatikus elektronikus kontaktusvizsgáló berendezés
MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG ORSZÁGOS TALÁLMÁNYI HIVATAL SZABADALMI LEÍRÁS SZOLGÁLATI TALÁLMÁNY Bejelentés napja: 1971. VII. 05. (HI-306) Kiállítási elsőbbség: 1971. V. 21.(7070/63/1971. sz.) Közzététel napja: 1973. VI. 28. Megjelent: 1975. IV. 30. 164056 Nemzetközi osztályozás: G 01 r 31/02 Feltalálók: Baranyai Attila okleveles villamosmérnök, Budapest Kerek László okleveles fizikus, Fót-Kisalag Tulajdonos: Híradástechnikai Ipari Kutató Intézet, Budapest Automatikus elektronikus kontaktusvizsgáló berendezés 1 • 2 Találmányunk tárgyát képező automatikus kontaktusvizsgáló berendezés diszkrét áramköri elemek, azokból felépített áramkörök, félvezető eszközök és főleg integrált, pl. monolitikus integrált áramkörök különböző eljárásokkal, 5 különösen termokompressziós eljárással kialakított kötéseinek ellenőrzésére, továbbá ezen eszközök vizsgálatakor a vizsgálóberendezés érzékelő eszköze pl. érintkezőtűje és az érintkezési pontok között létrejött kontaktusok minőségének ellenőrzésére, az 10 egyes meghibásodott kontaktusok kijelzésére és automatikus üzemmódban pedig a további mérés letiltására alkalmas. Félvezető eszközök, pl. térvezérléses és szigetelt bázisú tranzisztorok, integrált, főleg monolitikus 15 integrált áramkörök, stb. előállításánál a különböző eljárásokkal különösen termokompressziós eljárással kialakított kötések, továbbá az áramkörvizsgálatoknál pl. válogató, minősítő méréseknél az érzékelő eszköz és az érintkezési pontok között létrejött 20 kontaktusok minőségének ellenőrzése igen fontos. Integrált áramköröknél igen gyakori hiba az áramkör(ök)ön belüli kötések hiánya vagy nem kielégítő állapota, amely hiba eredményeképp az egész áramkör, vagy annak egy része nem 2S felhasználható. Ezen hibák feltárása, vagy közvetlen érzékelés, vagy egyszerű kilámpázásos kontaktusvizsgáló módszer segítségével történik és a hiba kiküszöbölése újabb kötés létrehozását igényli. Ezen áramkörök vizsgálatánál a vizsgálandó eszköz 30 és a vizsgálóberendezés érzékelő eszköze pl. érintkezőtűje között létrejött kontaktusnak mérés folyamán történő meghibásodása a mért paraméterek és a vizsgálandó eszköz minőségének megváltozását, így a mérés és minősítés pontatlanságát eredményezi. Az ilyen jellegű hibákat nagy számú mérés elvégzésével igyekeznek lecsökkenteni. Mindkét esetben a hibák érzékelése és a hiba helyének megállapítása nagyon időigényes és így rendkívül költséges eljárás. A kontaktushibákból származó hibás mérési eredményeket a japán Tokyo Shibaura Electric cég az APM-400 D típusú integrált áramkörök vizsgálatára készített soktűs automatikus mérőberendezésében úgy próbálta kiküszöbölni, hogy a vizsgálat kezdetén egy, a vizsgálandó áramkör kivezetéseinek megfelelő helyzetű tűkből összeállított tűkoszorút helyez a vizsgálandó áramkör érintkezési pontjaira és a létrejött kontaktusok minőségét kijelezteti, de azokat a mérés folyamán folyamatosan, vagy mintavételes módon nem vizsgálja. A berendezés működése így nem kielégítő, mivel a mérés kezdetén megfelelőnek minősült kontaktusok hosszabb időbeli lefolyású mérés esetén meghibásodhatnak és ezekre a kontaktusmeghibásodásokra már a berendezés érzéketlen, így a vizsgált eszközöket a valóságtól eltérőnek minősítheti. így szükségessé vált egy olyan kontaktusvizsgáló berendezés megvalósítása, amely félvezetőeszközök, 164056
