154581. lajstromszámú szabadalom • Eljárás hősugárzó felületek emissziós tényezőjének folyamatos mérésére, valamint berendezés az eljárás megvalósítására

MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG ORSZÁGOS TALÁLMÁNYI HIVATAL SZABADALMI LEÍRÁS SZOLGALATI TALÁLMÁNY Bejelentés napja: 1965. VIII. 03. (ME—721) Közzététel napja: 1967. X. 23. Megjelent: 1968. IX. 30. 154581 Szabadalmi osztály: 42 i 3—20 Nemzetközi osztály: G 01 k Decimái osztályozás: Feltaláló: Haas András oki. gépészmérnök, tudományos osztályvezető, Budapest Tulajdonos: Méréstechnikai Központi Kutató Laboratórium, Budapest Eljárás hősugárzó felületek emissziós tényezőjének folyamatos mérésére, valamint berendezés az eljárás megvalósítására A találmány tárgya eljárás hősugárzó felületek emissziós tényezőjének folyamatos mérésére, valamiint berendezés az eljárás megvalósítására. Az emissziós tényezőn fogalmilag valamely véges, vagy végtelen hullám tartományba eső emissziós tényező elosztás átlaga értendő. így sáv emissziós tényezőjéről, vagy totális emissziós tényezőről beszélhetünk. A hullámtartományit a használt emissziós tényező mérés módszernél alfcalmazott optika áteresztési tartománya határozza meg. Így „összsugárzó" pirométernél a megnevezésével ellentétben neim a totális emisszió tényező kerül be a mérésbe, hanem viszonylag egy széles húlláimsávra vonatkozó átlagos emissziós tényező. Pirométeres méréseknél végzendő emissziós tényező korrekció az individuális mérendő tárgyaik emissziós tényezője pontos ismeretének hiányában tévedéseket tartalmaz. Az emissziós tényező, mint bizonyos szilárd anyagok gyártásközibeni állapotára jellemző mennyiség a technológiai folyamat előrehaladását is képes jelezni folyamatos mérés esetén. Az emissziós tényező folyamatos mérése eddig megoldaitlan feladat volt. Az emissziós tényezőt mérő eljárások eddig lényegében laboratóriumi jellegűek voltak és az emissziós tényező meghatározását általában két mérésre vezették vissza. így például pirométerrel megmérték az ismert hőmérsékletű felület által kibocsátott hősugárzás okozta inidikációt, majd egy azonos hőmérsékletű fekete testet. A két mérésiből a 5 piirométer átviteli sávjába eső emissziós tényező meghiatárodható volt. Ez a módszer feltételezte a felület hőmérsékletének előzetes isimeretét, amit piroimetriával éppen azért nem lehetett pontosam meghatározni, mert az emisz-10 sziós tényező nem ismert. így tehát tulajdonképpen egy közvetlen hőmérséklet mérésre, vagy összehasonlításra is szükség volt. Ilyen körülményes mérések természetesen gyors gyártási folyamatoknál nem használha-15 tóak. Ezzel szemben a találmány szerinti megoldásnál a két mérést egyidejűleg lehet elvégezni, úgy, hogy a találmány szerinti emissziós, tényező optikájának megtervezhető átviteli hul-20 lámtartományban az átlagos emissziós tényező pillanatnyi értéke egy mutató műszeren közvetlen olvasható le. A találmány szerinti emissziós tényezőmérő 25 műszert az 1., 2. és 3. ábra kapcsán írjuk le. Az 1. és 2. áíbra a műszer és fényszaggatók általános mechanikai és villamos elrendezését, az 5. ábra pedig a jelalakot mutatja. Az 1 átlátszatlan, Ti hőmérsékletű felület, melynek 30 emissziós és reflexiós tényezői q és QÍ 154581