152739. lajstromszámú szabadalom • Eljárás és eszköz félvezető egyenirányító átmenetek és ohmikus kontaktusok készítésére

"'..".•/ ' 3 helyezzük el az oxidburkolatos ötvözőt — tehát pl. a gallium' tartalrM indium testet — a csa­torna alsó vége alá kis fészekbe pedig a ger­mánium-lapot. Ilymódon a nem fémtiszta felü­letű ötvözőt és félvezetőt egymástól téirbelileg elkülönítettük. A hőmérséklet fokozatos növelé­sével — redukáló áramban — először az ötvöző olvad meg, de a rajta levő oxidhártya alaktartó, és ezért nem tud csepp alakot felvenni és a csa­tornánkét súlya következtében a germánium-lap felületére esni. A hőmérséklet további növelésé­vel a Ge felületi oxidrétége megszűnik és így az ötvözés céljára megfelelő tisztaságúvá válik, va­lamivel később az ötvözőt bevonó oxidréteg is redukálódik, a felületi feszültség a már régeb­ben megolvadt ötvözőt — csepp alakra-össze­húzza, s mivel ennek.átmérője egyezik a csator­na átmérőjével, a már tiszta fémfelületű ötvö­zőcsepp a csatornán át a germánium tiszta felü­letére esik; ezáltal az érintkezés és az ötvözés a kívánt minőségben megtörténik. Először tehát a félvezető (Ge) felületének tö­kéletes redukálása szükséges, melynek megtör­ténte után cseppen arra az időbeli sorrendiben később redukálódott felületi ötvöző pl. a 0,5% Ga tartalmú In. Az előbbiekben vázolt találmányi gondola­tunk jobb megérthetősége céljából, azt az aláb­biakban leírt két kiviteli példában részletesen ismertetjük: 1. példa: Kialakítunk pl. grafit, zafír, stib. testben 1. ábra, 1 fészket, melybe elhelyezzük az ötvözésre kerülő 2 félvezető testet, pl. Ge-t. Ezien fészekre reáhelyezzük — az említett anyagból készült — 3 zárótestet, melyben füg­gőleges vagy ferde 4 furatot képezünk ki a fé­szekben levő félvezető test felett. A ferde, vagy miegtört furat nagyobb tömegű cseppeknél az ötvözőcsepp esési sebességének fékezésére szol­gál. A furat felső 5 részét tölcsérszerűen alakít­juk ki, ahová 6 ötvözőt pl. min. 0,01% Ga-t tar­talmazó imdiumból készült-'tárcsát helyezünk. Az ötvözőt célszerűen a szükséges fémek porai­nak megfelelő keverése után, sajtolással és zsu­gorítással képezzük ki. (Természetesen az ötvö­zőt a szokásos olvasztásos eljárással is készít­hetjük.) A leírt módon összerakott ötvöző esz­közt redukáló gázban, pl. hidrogénben vagy N2 +H 2 gázkeverékben hevítjük. Az indiumöt­vözet 155 C° körül megolvad, die alakját meg­tartja a felületét bevonó oxidréteg következté­ben, kb. 450 C°-on a 2 félvezetőtest (Ge) felüle­tének oxidrétege redukálódik, s nem sokkal na­gyobb hőmérsékleten pedig az olvadt ötvözőt bevonó oxidréteg is. Ekkor az, olvadt ötvöző csepp alakot vesz fel, (lásd 2. ábra) 4 furaton átesik a 2 félvezetőtest felületére, ahol megfe­lelő alakban és nagyságban az ötvözést a két test felületén lehetővé teszi, (lásd 3. ábra). A 3. ábrán — a könnyebb áttekinthetőség cél­jából — a (Ge) félvezető egyik oldalán történő Ötvözéshez alkalmas eszköz látható; tranzisztor kialakításához a félvezetőt (Ge) tartalmazó esz­közrész, az ötvözőt (In) tartalmazó — tehát a felső — részhez hasonló kiképzésű. 4 2. példa: Nagyobb átmenetek előállítására a 4. ábrán látható kialakítású eszközt használjuk. Itt a nagyobb tömegű indium ötvözőt a súlya átkényszerítené — az ötvöző gömbalakra számí-5 tott átmérőjének megfelelő nagyságú — fura­ton, még az oxidréteg megszűnése előtt, ezért ez esetben a 4 furat átmérőjét kb. 20%-kal ki­sebbre alakítjuk ki, mint az ötvöző tömegének 'megfelelő gömb átmérője. A furat, 7 alsó része, 10 ismét tölcsérszerű, nagyobb, ezáltal biztosítjuk a nagyobb méretű és alakú átmenet létrejövé­sét. ' • / A leírt módon sikerült elérnünk az ötvözésre kerülő testek térbeli elkülönítését, ötvözéskora 15 tökéletes oxidnélküli felületeket, azonkívül a kellő alakú és nagyságú ötvözési érintkező fe­lületek kialakítását és mindezek eredményeként sík és tökéletes ötvözést. Különösen hangsúlyoz­zuk eljárásunk azon előnyét, hogy semmilyen 20 külső — pl. mechanikus, — beavatkozásra nincs szükség a két test — az ötvöző és a félvezető — érintkezésének létrehozására.. Ezt az ötvöző sú­lya végzi; továbbá az érintkezés csak akkor tör­ténhetik meg, ha már a felületi oxidréteg re-25 dukcióját előzetesen biztosan megvalósítjuk. Szabadalmi igénypontok: 30 1. Eljárás félvezető egyenirányító átmenetek és öhmikus kontaktusok előállítására, a félve­zető és a szokásos — Pb, Bi, Sn, TI, In, — öt­vözök, mely ötvözőket célszerűen a szükséges fémek megfelelő összetételű porainak keverése 35 után sajtolással és zsugorítással képezünk ki, a két fém térbeli elkülönítését (az ötvözés előtt) biztosító eszközben; — melyben az ötvözőt a félvezetőtől függőleges és/vagy ferde csatorna választja el —, redukáló gázban — pl. hidro-Í0 génben — azzal jellemezve, hogy a hő­mérséklet emelésével megolvasztjuk először az ötvözőt olyan hőmérsékleten, hogy az azt be­vonó oxidréteg alaktartó tulajdonsága miatt, az ötvöző és a félvezető ezen a hőmérsékleten tér-45 belileg elkülönítve maradjon, majd a hőmérsék­let további növelésével az ötvöző és adott eset­ben az ötvözendő oxidrétegét megszüntetjük és az ötvözőt csak ezután — csepp alak felvétele után — a csatornán át a félvezető felületére 50 juttatjuk. 2. Az 1. igénypontban leírt eljárás foganatosí­tási módja, azzal jellemezve, hogy a szük­séges redukáló atmoszféra előállítására N2 -f-H 2 gázkeveréket használunk. 55 3. Az 1.—2. igénypontban leírt eljárás azzal jellemezve, hogy az ötvöző min. 0,01% gallium (Ga) tartalmú indium (In) ötvözet, a félvezető pedig germánium (Ge). 4. Az 1.—3. igénypontban leírt eljárás foga-60 natosításához alkalmas eszköz, mely — célsze­rűen grafitból vagy zafírból készül — alsó és felső részből áll, és az alsó részben a félvezető­test befogadására egy vagy több fészek van ki­alakítva, azzal jellemezve, hogy a félve-65 zetőt magába záró fészek (1) felett a felső rész-2

Next

/
Thumbnails
Contents