152604. lajstromszámú szabadalom • Berendezés sík felületek reflexió-képességének meghatározására
3 152604 4 és —L2— lencsók között, párhuzamos sugárnyalábokat tartalmazó szakasszal rendelkezik. Az —L3— lencsét olyan távolságra helyezzük a —B— nyilastól, hogy a —B— nyilas az —1L3— lencse első fókuszába kerüljön. Ily módon az —Lg— lencséből párhuzamos sugárnyalábok lépnek ki és jutnak a részben áteresztő, részben reflektáló —Pg-— etalonfelületre, amely a mérendő •—P— felülettel kis « szögű levegőéket zár be. Ha a felületek intenzitásra vonatkozó) reflexióiképességei Rg, illetve R, akkor a lemezpárról a levegőéken belüli többszörös reflexiónak megfelelően kilépő sugárnyalábokat egy további, a ferde sugárnyalábokat is teljesen 'befogadó —L4— lencsével a —1B0, Bi, B2, B3— képsorozattá képezhetjük le, amelyben a szomszédos, képek szögtávolsága 2« és intenzitásaránya R^-R. Ez a szorzat, vagy ennek egész számú hatványértléke az egymás mellett fekvő képek, illetve a nem szomszédos képek intenzitásarányából egyszerűen meghatározható. A ferdén kilépő sugárnyalábok teljes befogadása érdekében az —L4— lencse átmérőjének nagyobbnak kell lennie, az —IL3— lencse átmérőjénél. A ferdén kilépő sugárnyalábok teljes befogadása úgy is elérhető, hogy az —1I4—, —L2— lencsék közé egy —iBl— fényrekeszt helyezünk el oly módon, hogy annak az —IL2—vei leképzett —Bl'— optikai képe az —(L3— lencsére esik és optikai képének átmérője a —L4— lencse átmérőjénél kisebb, vagy egy a —Bl'— nagyságával egyező fényrekeszt közvetlenül az —L3— lencse elé helyezünk. A találmány szerinti berendezés előnyei a következők. A mérés során a teljes optikai elrendezés változatlan marad, mivel az összehasonlító és mérendő felület a mérésiben együttesen szerepel. A képsorozat tagjai gyakorlar tilag teljesen azonos optikai feltételek mellett jönnek létre, így az integrálógömb használata feleslegessé válik. A reflexióképesség mérés gyakorlatilag merőlegesen beeső fénysugár 'esetén is elvégezhető, mivel —B— nyilas mérete és e szög nagysága az —L3—, —L4— lencsék fókusztávolságaihoz képest elég kicsire választhatók, hogy a képsorozat tagjai különváljanak. Külön etalon feleslegessé válik, ha a méréshez lagalább három különböző reflexiófcépességű lemezt használunk, mert a mérésnek a háromféle tehetséges párosításban történő elvégzése esetén mint a három reflexióképesség érték egyértelműen meghatározható. A továbbiakban bármelyik lemez mint ismert reflexióképességű etalon is használható. Ezt a mérést úgy végezzük el, hogy a —Pi—, —P2—,—P3— lemezeket páronként kombináljuk. Ha a megfelelő, egyelőre ismeretlen reflexióképességek Rí, R2 és R3, akkor a háromféle párosításban elvégzett mérésből, ezek páronkénti szorzatának értékeit l(la, b és c) kapjuk meg. Legyen a=Ri R2 b—Rí R3 c=R2 R 3 azaz a reflexióképességek a három mérésből kapott eredményekkel kifejezve . *YF *-^= *-/^ Előny végül, hogy nagy reflexióképességű felületek esetén a képsorozat magasabb rendj0 számú tagjainak intenzitása is még jól mérhető, s, így a reflexióképesség mérés pontossága különösen nagy reflexióképességek esetén javul, továbbá a különböző rendszámú képek mért intenzitásértékeinek tetszés szerinti páro-15 sításából számított reflexióképesség értékek a mérés statisztikus hibáit erősen csökkentik. A hordozó felületek másik hatásfelületéről származó a méréseredményt zavaró reflexiók oly módon kerülhetők el, hogy pl. a hordozó-20 feliületek kis 0,5—1° ékszögű ékek, melyeknek lejtésiránya azonos, vagy ellentett irányú és a levegőék lejtésiránya ezekre merőleges. Ekkor a hordozófelületek másik felületéről származó (lényegesen kisebb intenzitású) az eredeti 25 képsorozattal párhuzamosan keletkező kópsorozat(ok) a fényérzékelő előtt elhelyezett, megfelelő méretű nyilassal az intenzitásmérésből kirekesathetők. A találmány szerinti berendezés egy kiviteli 38 alakja alkalmas nem átlátszó anyagból készült felület reflexióképességének mérésére is. Egy ilyen kiviteli alakot a 2. ábra tüntet fel. Az eltérés az 1. ábra szerintitől az, hogy a —B— nyilasból jövő fény párhuzamosítására és a 35 többszörösien reflektált nyalábok leképzésére közös —L34— lencse szolgál; a —B— nyilas és az —L34— lencse közé a —H— résziben áteresztő, részben reflektáló felület van elhelyezve, amely a —B0 , Bi, B 2 , B3— képsorozat 40 előállítására a mérendő és az etalonfelület között többszörösen reflektált sugarak közül a beeső fénysugárral ellentétes irányba reflektált sugarakat használja fel, továbbá a ferde sugárnyalábok teljes befogadásának biztosítá-45 sara az 1. ábrával kapcsolatban leírt fényrekeszek közül ekkor csak az —Li—- és. —Lg— lencsék között a leírt módon elhelyezett —Bl— fényrekesz használható, mivel csak így biztosítható, hogy az —L34— lencsére az. —F— 50 fényforrásból csak —Bl'— átmérőjű sugárnyalábok érkezhetnek, míg a —Pg— és —P— lemezek között többszörösen reflektálódott és így az optikai tengellyel szükségszerűen szöget bezáró párhuzamos nyalábok, — visszafelé — 55 teljes egészükben áthaladhatnák az —L34— lencsén. A 2. ábra szerinti berendezés szabad folyadékfelütetek reflexió-képességének mérésére is használható, ha a berendezés, vagy célszerűen 60 pl. segédtükör közbeiktatásával legalább annak egy része, oly módon elforgatható, hogy a mérendő folyadékfelület vízszintes helyzetű lehessen. A folyadékot tartalmazó edény méreteit oly nagyra kell megválasztani, hogy a fees lületi feszültség miatt az edény széle felé a 2
