113949. lajstromszámú szabadalom • Szekunder sugárrekesz röntgensugarakkal való vizsgálatokhoz és eljárás annak előállítására

vastagok. Ebből következik, hogy a talál­mány szerinti azonos Bucky-effektust létesítő rács alacsonyabb és már ezért is könnyebben szerelhető és kezelhető. A közönséges tűrácsot végtelen távol­ságban fekvő pontra központosítjuk. Nem okoz azonban nehézséget oly rácsok elő­állítása sem, melyeknél a sugárforrás és a rács között kis távolságok vannak. Ilyen célokra is a fent leírt eljárások bár­melyikével a megfelelő rács aránylag­könnyen előállíható. A rostok irányára jharántirányban metszett falemez esetén az ilyen lemez p. o. gőztérben könnyen ala­kítható. Ha az ilyen lemezt, gömbsapka­alakúra képezzük ki, úgy az abban levő rostok szükségképpen a gömb közép­pontja felé irányított helyzetűek. Az ilyen lemez egyébként szükség esetén ugyan­így hozható hasáb vagy ellipszoid ala­kúra. Ha az ilyen kellő vastagságú gömb­sapkát két egymással párhuzamos irány­ban, egymástól csekély távolságban fekvő síkok mentén, a középső normális irá­nyára merőlegesen szétvágjuk, akkor olyan sík tárcsát kapunk, amelynek tűi véges távolságban fekvő pontra irányí­tottak. A gömbsapkát azonban más, egy­mással párhuzamos, ívelt felületek men­tén is szétvághatjuk, úgy hogy alak és hatás tekintetében gömbsapka és sík tár­csa között fekvő rácsszerkezetet kapunk, melynek alkalmazása bizonyos körülmé­nyek között előnyös lehet. Az új szekunder sugárrekesz egyik pél­dakénti megoldását a rajz vázlatosan, metszetben mutatja. Az (a) rács gömbsapka alakú és ebben a rácselemek (b) (tűk), melyeket a rajz nagyított léptékben mutat, a (c) röntgen­sugárforrásra irányulnak. Ebből a gömb­sapkából azt a sík táresaalakú szekunder sugárrekeszt, melynek rácselemei a (c) sugárforrásra irányulnak, az egymással párhuzamos és a (d) sugárra merőleges (e) és (f) síkok mentén vágjuk ki. A (b) rácselemek közötti (g) közbenső terek, röntgensugarat jól átbocsátó anyaggal vannak kitöltve. Szabadalmi igények: 1. Szekunder suggárrekesz röntgensuga­rakkal való vizsgálatokhoz, melyet tű­alakú abszorpciós testek jellemeznek. 2. Az 1. igénypontban védett szekunder sugárrekesz, melyet az jellemez, hogy az abszorpciós testek (tűk) a rekesz felületén szabálytalanul, de akként el­rendezettek, hogy valamennyien egy közös, véges távolságban vaigy végte­lenben levő pontra vagy ilyen egye­nesre irányított helyzetűek. 3. Az 1. vagy 2. igénypontban védett sze­kunder sugárrekesz, melyre jellemző, liogy az abszorpciós testek üregesek (üreges tűk). 4. Az 1—3. igénypontok bármelyikében védett szekunder sugárrekesz, melyre jellemző, hogy a rekesz felülete ívelt felület, pl. gömbsapka. 5. Az 1—4. igénypontok bármelyikében védett szekunder sugárrekesz, mely­nek abszorpciós testei (tűi) véges tá­volságú pontra irányítottak, melyet az jellemez, hogy a rácsfelület sík tárcsa, 6. Az 1—5. igénypontok bármelyikében védett szekunder sugárrekesz, melyre jellemző, hogy a rács a rostok irá­nyára merőleges irány mentén met­szett fatárcsa, melynek rostjaiban röntgensugarakat nehezen vagy egyál­talában át nem bocsátó anyag van. 7. Eljárás az 1—5. igénypontok bárme­lyikében védett szekunder sugárrekesz előállítására, melyet az jellemez, hoigy a röntgensugarakat abszorbeáló anyag­ból, pl. ólomból készült, megfelelő mé­retű tűket, kötőanyagból készült ré­teggel bevont lemezre szórunk szét, azután a szétszórt tűket villamos me­zővel irányítjuk, majd a lemezt mele­gítjük és a tűk irányított helyzetének rögzítése végett lehűtjük, végül pedig a tűk közötti tereket utólagosan meg­dermedő, a röntgensugarakat jól átbo­csátó anyaggal töltjük ki. 8. Eljárás az 1—5. igénypontok bármelyi­kében védett szekunder sugárrekesz előállítására, melyet az jellemez, hogy •a tűket nehéz fémből, p. o. ólomból, burgonyapréshez hasonló szerkezettel úgy állítjuk elő, hogy ólomtartalmú folyékony vagy kásás tömeget lyu­kasztott lemezen átsajtolunk, a. lemez túloldalán függő, szálalakú sajtolt tes­tekét megmerevítjük és azok közeit röntgensugarakat jól átbocsátó anyag­gal töltjük ki. 9. Eljárás az 1—5. igénypontok bármelyi­kében védett szekunder sugárrekesz előállítására, melyet az jellemez, hogy elektrolitos leválasztásra alkalmas elektróda felületén nehéz fémből, pl, ólomból való cseppecskéket, szabályta-

Next

/
Thumbnails
Contents