Himer Zoltán (szerk.): Iparjogvédelem. Módszertani füzetek 1-17. és SZKV mellékletek (Budapest, 1988)
Módszertani füzetek 1. - Módszertani útmutató Iparjogvédelmi kutatások és vizsgálatok végzéséhez az MSZ-16 0001-80 OTH Ágazati Szabvány előírásai szerint
3.3.1.1. találmányok kátegóriájába tartozó műszaki alkotások vizsgálata E vizsgálat Keretében a szabaualomtisztaság megállapitásara irányuló elemzés a következő műveletekből áll:- a találmányi leiras jogi jelentőségű részei alapján a szabadalmas jogainak megáliapitása;- a szabaoalmi igénypontok feiepitési rendszerének meghatarozasa;- a szabadalmi igénypontok elemzese az oltalmi dokumentum áltál biztosított jog hatarainak megállapitása céljából;- a szaoacalmi igénypontok alapjan a találmány egyes jellemzőinek és ezek összességének megállapít ása;- az oltalmi dokumentum áltál védett megoldás es a vizsgált alkotás jellemzőinek összehasonlítása /külön-külön az egyes igénypontok szerint/;- az oltalmi dokumentum által véoett találmány és a vizsgált megoldás közös, nagymértékben hasonló vagy egyenértékű jellemzőinek meghatározása ;- amennyiben ilyen jellemzőkkel biró igénypont található, úgy meg kell vizsgálni, hogy az lényegesnek tekinthető-e a találmány megvalósitása szempontjából. na ilyet találunk, vagyis ha a találmány első vagy fő igénypontja, illetve más, az előbbiektől független aligénypontjának jellemzői maradéktalanul megvalósulnak a vizsgált megoldásban vagy annak valamely elemében, akkor a szabadalomtisztaság hiányát áilapithatjuk meg, Ebben az esetben függetlenül attól, hogy az ütközés a vizsgált alkotás egészét vagy annak csak valamely elemét érinti, az-adott oltalmi dokumentum származási országában a teljes műszaki alkotás nem tekinthető szabadalomtisztának mindaddig, amíg a kérdéses oltalmi dokumentum hatályát nem veszti, A fenti esetben a szabadalomtisztaság hiánya fennáll akkor is, na a vizsgált alkotásban az oltalmi dokumentum valamely független igénypontjának összes jellemzői mellett még egy sor olyan jellemző is előfordul, amelyek következxében a vizsgált alkotás magasabb szintű, tökéletesebb műszaki paraméterekkel rendelkezik, mint az oltalom alatt álló megoldás. 19
