Tátrai Vilmos szerk.: A Szépművészeti Múzeum közleményei 95. (Budapest, 2001)

Imhotep bronzszobrának anyagvizsgálata

IMHOTEP BRONZSZOBRÁNAK ANYAGVIZSGÁLATA A Szépművészeti Múzeum Egyiptomi Gyűjteményének Imhotep szobrán elvégzett anyagtani vizsgálatok célja az volt, hogy a műtárgy egyes elemeinek azonosságát vagy esetleges különbözőségét meghatározzuk. Felmerült ugyanis annak a valószínűsége, hogy a műtárgy egyes részei más-más összetételű ötvözetből készültek. A felvetett kérdés az volt, hogy az egymáshoz szilárdan rögzített szék és a talapzat, illetve a test és a lábak alatt lévő zsámoly, melyeket ugyancsak szilárd kötéssel rögzítettek egymáshoz, azonos, vagy eltérő anyagösszetételűek-e. A kérdés eldöntéséhez egyrészt röntgen pordiffrakciós fázisanalízist

1 (XRD), másrészt röntgen fotóelektron spektroszkópiát

2 (XPS), illetve elektron-mikroszondás

3 (EMS) vizsgálati módszert alkalmaztunk. Az XRD vizsgálattal a bronz fázisösszetételét, kristályos fázisainak minőségét, mennyiségi arányaikat, az XPS, illetve az EMS mérésekkel az elemösszetételt határoztuk meg. A levett mintamennyiség nem tette lehetővé, hogy az XPS spektrumokból a minták szén-tipusú szennyeződéseit, illetve a fémek oxidációs állapotát megbízható szinten határozzuk meg, ezért csak az elemösszetételi adatokat használjuk fel a mérésekből. Az EMS vizsgálatokkal a felületek (törési-, illetve felszíni struktúrák) morfológiáját, illetve néhány pontban az elemösszetételét határoztuk meg. Az anyagvizsgálatot végezték: Tóth Mária, Fórizs István (MTA Geokémiai Kutatólaboratórium, 1112 Budapest, Budaörsi út. 45), Bertóti Imre, Mohai Miklós (MTA Anyag és Környezetkémia Kutatólaboratórium, 1025 Budapest, Pusztaszeri út. 59-67.). 1 XRD, Philips röntgendiffraktométer, CuKa sugárzás, 45 kV, 35 mA, 1 odivergencia rés, grafit monokromátor, APD software. 2 XPS, Kratos XSAM 800 típusú készülék, gerjesztő forrás: Mg Ka sugárzás, rögzített fékezési arány üzemmód, detektálás 50-1300 eV kinetikus energia tartományban. 3 JEOL JXA SUPERPROBE 733 típusú elektron-mikroszondán. 30 kV feszültséggel, 30 nA áramerőséggel, 40 secundumos detektálási idővel, egységesen minden felvett spektrum esetében. A vizsgálati eredmények az alábbi formában szerepelnek: energiadiszperzív analízis spektrumai (3-4.sz. ábrák) a vízszintes tengelyen a gerjesztett elemek karakterisztikus XR (röntgen) sugárzásának energiája, a függőleges tengelyen pedig a mennyiségei arányos beütésszám szerepel. SEI (másodlagos elektronkép-secondary elektron image) jelöléssel a minta morfológiáját másodlagos elektronképekkel készített felvételeken mutatjuk be. A bombázó elektronok által gerjesztett atom legerjesztődésekor (másodlagosan) gerjesztett elektronokat detektáltuk. Ez a képtípus kifejezetten a térbeli formák megfigyelésérc alkalmas (29. kép).