Bárkányi Ildikó – F. Lajkó Orsolya (szerk.): A Móra Ferenc Múzeum Évkönyve 2017., Új folyam 4. (Szeged, 2018)
Régészet
Osváth - Fórizs - Szabó - Bajnóczi Vaskori üveggyöngyök régészeti és archeometriai kutatása Vizsgálati módszerek Kézi röntgenfluoreszcens analízis (hXRF) Röntgensugaras gerjesztéssel járó elemanalitikai módszer, mely nem igényelt mintavételt. A mérést a Spectro X-Sort Combi műszerrel végeztük. A Mg-tól az U-ig előforduló elemek mérhetők, így a Na könnyűelem lévén nem ill. nehezen detektálható. A mérési terület 0,3 cm átmérőjű kör alakú folt. Megpróbáltuk a gyöngyök díszeit és alaptesteit többször is külön mérni. Paraméterek: 15-50 keV, 21-50 mikroamper, Rh forrás, Peltier hűtésű SDD detektor. Mikro-röntgendiffraktometria (p-XRD) A módszerrel a mintában előforduló kristályos fázisok (esetünkben a színezők) azonosíthatók. A gyöngyök mérete és a mállottság kikerülése tette indokolttá, hogy a mezőtúri gyöngyökből vett mintákat mérjük (Szolnok 1-3 sárga mintái: 0,1 cm-esek, a már sérült fűzőlyuk menti felületről származnak; Szolnok 3 kék és fehér mintái: egy-egy tized mm-es darab, az egyik pávaszem kék és fehér részei elválásánál vett minták). Az analízist a Rigaku gyártmányú D/Max Rapid II műszerével végeztük. A mérési felület kiválasztásában digitális kamera segített. Mérési körülmények: Cu Ka, 50 kV, 0,6 mA, képsík detektor (image plate detector), 1-6-12 perces mérési idő, 300-800 mikrométeres kollimátor. Elektron-mikroszondás analízis (EMPA) Elektronsugaras gerjesztéssel járó minőségi és mennyiségi, mintavételt igénylő elemanalitikai módszer, melynél a mikroszövet jellemzését a visszaszórtelektron-képek is segítik. A vizsgálathoz a sárga üvegminták (0,1 cm) műgyantába ágyazott, csiszolt és polírozott preparátumait használtuk, amelyekre a mérések előtt szénréteget gőzöltünk az elektromos vezetőképesség végett. A vizsgálatokat az Oxford Instruments INCA Energy 200 típusú energia-diszperzív röntgenspektrométerrel (EDS) felszerelt, JEOL Superprobe-733 típusú elektron-mikroszondán végeztük. A mintákban az üvegmátrixot 10 pm- re nyitott nyalábbal mértük és 40 másodpercig gyűjtöttük a spektrumot. A zárványokat fókuszált nyalábbal (1 pm) 40 másodpercig mértük. Elemzési körülmények: 20 keV gyorsítófeszültség, 4 nA áram. Az üvegmátrix j ellemző alkotóelemeit (Na, K, Ca, Mg, Al, Si, Cl, Fe és Pb) és a színezőket (Pb, Sb) mértük. Az elemek jellemző kimutatási határa 0,2 %, így a kis koncentrációban előforduló elemeket (pl. <0,02% Co) nem érzékeli. A mérések eredményeit oxidos formában adjuk meg (a klórt kivéve). Sztenderdként mesterséges üvegeket és antimon-telluridot (Sb ,Te,) használtunk. 89
