Vándor Andrea szerk.: Janus Pannonius Múzeum Évkönyve 50-52/2 (2005-2007) (Pécs, 2008)

Velledits Lajos, Dezső József, Kaposvári Ferenc, Sajó István Természettudományos vizsgálatok Csontváry palettájának megismerésére a Pécsi Janus Pannonius Múzeumban Tapasztalatok és kutatások az átfogó XRF vizsgálatok előtt

kon izotópok segítségével tudtuk az ottlévő fémeket meghatározni. A ki­tűnő eredmények ellenére komoly nehézséget jelentett a vizsgálati he­lyek illesztése a függőleges sugárnyalábhoz. A következő lépésben - a fejlődés következő állomásaként - a sugár vízszintes irányt vett és a fes­tőállványon lévő kép bármely pontjára könnyen ráirányítható volt. 2007-ben jelentkeztek az első hordozható készülékek, amelyek a vizsgálathoz szükséges energiát röntgencsővel állították elő. Ilyen műszert építettek a KFKI mun­katársai is a Pécsi Tudományegyetemen. Megragadva az alkalmat és a Csontváry képekről eddig szerzett tapasztalatainkat igyekeztünk kiszéle­síteni. A Baranya Megyei Múzeumok Igazgatósága felismerte a kutatás jelentőségét és lehetőséget biztosított a Csontváry-gyűjtemény képeinek vizsgálatára. 1 7 A vizsgálati módszer bemutatása Az anyagok elemi összetételének meghatározására laboratóriumi körülmények között minta előkészítést igényel, (tö­megspektrométer, energia disz­perzív spektrometria, lézer in­dukált plazma spektroszkópia, ...) Múzeumi kiállított tárgyak vizsgá­latára csakis roncsolásmentes el­számos módszer létezik, többségük működtetett készüléket és speciális járást választhatunk, továbbá a műtárgyakat nem minden esetben szállíthatjuk laboratóriumba. Ezt néha méretük sem teszi lehetővé, a szállítás is kockázatos lehet, a tárgyból kiemelt minta pedig leg­többször szóba sem jöhet. A leg­járhatóbb út a mérőműszert a mú­zeumba vinni és a helyszínen min­tavétel nélkül a tárgyon elvégezni xrf spektromé- a méréseket. Az utóbbi években a ter üzemben mikroanalitikai műszerek területén történt technikai fejlesztések lehetővé tették egy mobil rendszerű, kis tö­megű (néhány kilogramm) röntgen fluoreszcens spektrométer (XRF) megépítését, amellyel intakt módon, vagyis a spektrométerrel a mintára csak ráközelítve, azt nem érintve lehet elvégezni a mérést, és azonnal értékelhető eredményt kapni a festékek anyagi összetételéről minőségi­leg és mennyiségileg egyaránt. Elvi működés: Egy viszonylag lágy tartományú (1-30 kV) röntgensugárral gerjesztjük a minta anyagát. A minta atomjainak belső elektron pályáiról (K, L) elektro­Az engedélyért Fabényi Júliának, a Baranya Megyei Múzeumok Igazgatósága veze­tőjének tartozunk köszönettel. 236 A Janus Pannonius Múzeum Evkönyve

Next

/
Thumbnails
Contents