Fogorvosi szemle, 2011 (104. évfolyam, 1-4. szám)
2011-03-01 / 1. szám
14 FOGORVOSI SZEMLE 104. évf. 1.SZ. 2011. tikai denzitást (OD) 540 nm-en mértük Multiscan Ex spektrofotométer (Thermo Labsystems, Vantaa, Finnország) és Ascent Software (Thermo Labsystems, Vantaa, Finnország) segítségével. Adatok feldolgozása, statisztika Átlag ± átlag szórása (standard error of the mean - SEM) értékeket számoltuk ki az AFM, az MTT és a fehérjetartalom vizsgálat esetében is. Normalités vizsgálat után, egytényezős varianciaanalízist végeztünk (ANOVA), majd Tukey és Scheffé post hoc teszteket alkalmaztunk az értékek páronkénti összehasonlítására (SPSS 15.0, SPSS, Chicago, Illinois, USA). A szignifikancia-szintet 0,05-nek vettük (p < 0,05). Eredmények AFM vizsgálat Az in vitro vizsgálatok előtt a Ti-korongok felszínét AFM és XPS segítségével vizsgáltuk. A 2a és 2b ábrákon jól látható, hogy párhuzamosan futó barázdák vannak az esztergált felszínen, a szín egyre világosabb a barázda mélyétől felfelé. Az AFM mérések a kontroli-csoportban Ra = 22 ± 3 nm felületi érdességet adtak (2a. ábra). A citromsavval kezelt mintákon 25 ± 7 nm (3a és 4 ábra), míg a 3% H202 csoportba tarto-4. ábra A kontroll, a H202-vel, a klórhexidin (CHX) géllel és a citromsawal kezelt Ti-korongok felületi érdességének (Ra) ábrázolása oszlopdiagramon, az átlag értékek és az átlag szórásának jelölésével. Az AFM vizsgálat a kontroll (kezeletlen) csoportban Ra = 22 ± 3 nm (átlag ± SEM) felületi érdesség értéket adott. Ez az érték 30 ± 5 nm a H202 (3%) -dal kezelt csoportban, 14 + 4 nm a CHX géllel történt kezelés esetén, míg 25 ± 7 nm a citromsavval (pH = 1) kezelt próbatesteken. A statisztikai analízis nem mutatott szignifikáns különbséget a csoportok között. zó próbatesteken 30 ± 5 nm volt az érdesség (2b és 4 ábra). A CHX géllel kezelt csoportban 14 ± 4 nm volt (3b és 4 ábra). A csökkenést - amely nem volt szignifikáns - valószínűleg a gél Ti-felszínhez történő adszorpciója okozta [6], XPS vizsgálat Az XPS vizsgálat során a kezelt és kezeletlen minták felszínén is jelen voltak az általában megfigyelhető elemek: a Ti, O, C és N. A Ti4+-nak megfelelő Ti 2p 3/2 elektronok kötési energiája 458,6 ± 0,1 eV-nál volt mérhető minden mintán (5. ábra). A kettős Ti csúcsok (Ti 2p, 458,6 és 464 eV- nál) és az O 1s jel (530 eV) bizonyítja a Ti02 réteg je-A kontroll (A; K1), a H202-vel (S; H1), a klórhexidin géllel (C, G1) és a citromsavval (D; C1) kezelt Ti korongok Ti 2p jele az XPS spektrumban. A Ti02 minden felszínen jelen van lenlétét [4,15], A különféle oldatokkal történő kezelés nem változtatta meg a korongok felszínein a Ti 2p jelet (5. ábra). Változást tapasztaltunk azonban az O 1s csúcsnál, amelyet három csúcsra lehet felbontani (6a. és 6b. ábrák). A legintenzívebb, ~ 530,1 eV-nál mérhető, amely a Ti02-ban lévő O-t jelzi, míg a ~ 531,7 eV-nál mért csúcs a felszíni OH csoportoknak köszönhető. Az 532,9-533,0 eV között mérhető harmadik csúcs a CO és/vagy C=0 kötésekben jelenlévő O-tól származik. Ez utóbbi jel a CHX géllel kezelt minták esetében volt a legintenzívebb (6b. ábra), amely valószínűleg a CHX felszínbe történő adszorpciójából származik [6], Ezt a C 1 s jel felbontása is alátámasztja (nem közölt ábra), melyet minden mintánál 4 csúcsra lehetett bontani. A géllel kezelt mintáknál a 287 eV -nál mért csúcs intenzívebb volt, mint a többi csoport esetében. A kezeletlen mintákon a C 1s jel gyengülése tapasztalható (7. ábra), 30-60 perc He+ bombázás után. Ez azoknak a szénszennyeződéseknek köszönhető, amelyek a tisztítás után maradtak a felszínen, vagy a levegőből adszorbeálódtak a tárolás során. Ezek az elemek általában jelen vannak a Ti implantátum felszínén [23].
