Fogorvosi szemle, 2006 (99. évfolyam, 1-6. szám)
2006-04-01 / 2. szám
Intenzitás (r.e.) FOGORVOSI SZEMLE ■ 99. évf. 2. sz. 2006. 57 oo 50 200.0 hm 100.0 HM 0.0 HM Digital Instruments NanoScope Scan size 5.020 um Scan rate 1.963 Hz Nimber of saMPles 512 Inage Data Deflection Data scale 200.0 nM 5. ábra. A 12500 ppm fluorid-koncentrációjú géllel kezelt felszín atomi erő mikroszkópos képe síkban (zská|a = 200 nm). 5x5 pm-es kép, kontakt üzemmód, „deflection” kép 6. ábra. Fluoridos géllel kezelt titán felszín keresztmetszeti kép analízise. 6x6 pm-es tartomány, kontakt üzemmód, „height” kép kontroll minta / , j , i i i ■ j t | i [—i 0 200 400 600 800 1000 1200 7. ábra. A polírozott, fluoridos géllel nem kezelt (kontroll) titánminta XPS spektruma széntartalmú szennyeződések jelenlétét. Ez azoknak a karbontartalmú molekuláknak tulajdonítható, amelyek a tisztítás ellenére a felszínen maradnak, vagy akár a levegőből abszorbeálódnak. A Ti 2p kettős csúcs (458 és 464 eV kötési energiáknál) és az O 1s spektrumvonal (530 eV) a titán-dioxid réteg jelenlétére utal. A fluoridos géllel történő kezelés után, az XPS grafikonon (8. ábra), a kontrolihoz képest három új kiemelkedés jelenik meg. Az 1080eV-os kötési energiánál jelentkező csúcs a Na 1s spektrum vonalának felel meg, ami valószínűleg a NaF-ból származik. A 690 eV körüli csúcs fluorid vegyülettől vagy fluorid-komplextől ered. Eddigi vizsgálataink alapján nem tudjuk pontosan azonosítani e vegyületeket, mivel e kötési energia körül több különféle vegyületből származó fluorid is ad spektrum-vonalat. így a 684,5 eV-os jel a NaF-tól, a 685 eV-nál megjelenő csúcs a K2TiF6 komplextől származhat, míg a
