A Budapesti Műszaki Egyetem Évkönyve 1982-1983, 2. kötet
Tudományos szakirodalmi tevékenység 1982-ben
490. HABER, Robert - VAJK, István - REVICZKY László : Nonlinear system identification by ’’linear” systemshaving signal-dependent parameters. = 6®1 IF AC symposium on identification and system parameter estimation. Washington, 1982. Washington, Pergamon Press, 1982 . 421426. p. 491. HÁBERMAJER, István - LŐCSEI, Balázs : Nonlinear equivalent circuits for semiconductor lasers. = Microelectronics ’82. Proceedings of the third microelectronics conference of the socialist countries. Siófok, 1982. Bp. KFKI, 1982 . 279-280. p. 492. HABERMAYER Istvánná - BARS Ruth - BÉZI István - HABER Róbert - REVICZKY László - KOVÁCS Tivadar - MAGYAR Péter - VÁJT A Miklós : Programcsomagok az oktatásban. = Automatizálás, 15. 1982. 4. 29-31. p. 493. HAJDÚ, István - BÁNLAKI, Pál -PINKOLA, János -TÓTH, Endre : Methods for testing printed circuits. = Physical measuring methods in electrotechnology. Prenet, 1982. Prague, CVUTvPrize, 1982. 101-104. p. 494. HAJNAL, Miklós - KÓCZY, László T.: Classification of textures by vectorial fuzzy sets. 157-164. p. = Approximate reasoning in decision analysis. Ed.: Gupta MadanM. Sanchez Eli. Amsterdam - New York - Oxford, North Holland, 1982. 455 p. 495. HAJNAL,Miklós - KÓCZY, LászlóT.: A fuzzy approach to texture analysis. 477484. p. = Progress in cybernetics and system research. 11. Ed.:Trappl R. and the others. Washington, Hemisphere Publ., 1982 . 600 p. 496. HAJNAL Miklós - RÉTI Tamás - KÖNYVES-TÓTH Mihály : Mikroszkópos szövetképek morfológiai minősítése texturális és geometriai jellemzők alapján. = A 12. Magyar elektromikroszkópos és mikroanalízis konferencia, Eger, 1982. Bp. Akadémiai K. 1982. 47-51. p. 497. HAJNAL Miklós - RÉTI Tamás - KÖNYVES-TÓTH Mihály: Szövetképek kvantitatív elemzése statisztikai és morfológiai módszerekkel. = 11. Kohászati anyagvizsgáló napok, Balatonaliga, 1982. Bp. MTESZ, 1982. 50. p. 498. HAJNAL, Miklós - KÖNYVES-TÓTH, Mihály - RÉTI, Tamás : Testing and quality control of materials by microstructure analysis. = Preprints of IMEKO 9^ world congress, Budapest, 1982. Bp. Akadémiai K. 1982. 1-9. p. 499. HAJNAL Miklós: Vizuális információ mérése textúra vizsgálattal. 1. = Mérés és Automatika, 30. 1982. 7. 271-276. p. 38 2
