A Budapesti Műszaki Egyetem Évkönyve 1977-1978

Szakirodalmi tevékenység 1977-ben

= Proceedings of the Seventh International Vacuum Congress and the Third International Conference on Solid Surfaces, Vienna, 1977. Vienna, Berger - Söhne, 1977. 2585-2588. p.

555. GIBER, János: Combination of electrical and structural examinations in semiconductor sandwich structures, aimed at the study of electron states- a comdined application of SIMS and thermostimulated method. Twentei Egyetem, 1977. /Szakelőadás./

556. GIBER, János: The enrichment of doping and contamination elements on the surfaces of metals and in the interface of semiconductor layer structures. /Szakelőadás./ /International Conference on Secondary Ion Mass Spectroscopy and Ion Microprobes, Münster, 1977./

557. GIBER János - KAZSOKI János - KOBLINGER László : Az ionporlasztás folyamatának modellezése számítógépes szimulációs módszerrel. 64-71. p. = Budapesti Műszaki EGyetem Fizikai Intézet Kutatómunkája 1972-1977. Szerk.: Giber János, Láng László, Tóth András, Verhás József. Bp. BME Fizikai Intézet, 1977. 263 p.

558. GIBER János - ANTAL János: Kísérleti és elméleti vizsgálatok a szilárdtestfelület- gázion ütközések szekunderion-spektrumainak kvantitatív értelmezése területén. 101-123. p. = Szemelvények a hazai szilárdtestkutatások eredményeibél. Szerk.: Siklós Tivadar. Bp. Akadémiai K. 1977.246 p. /A szilárdtestkutatás újabb eredményei. 3.1

559. GIBER, János - DEÁK, Péter - MARTON, Dénes : The mechanical stress deriving from molecular fitting on the SÍ-SÍO2 interface and its effect upon the development and distribution of vacancies. = Physica Status Solidi, (b) 79. 1977. K89-K93.p.

560. GIBER János: MOS szigetelőrétegek strukturális és összetételvizsgálata különös tekintettel a határfelület szerkezetére és a határfelületi feldúsulásokra. = Szilícium alapú MIS rendszerek problémái. Mátrafüred, 1977. Bp. Eötvös Loránd Fizikai Társulat, 1977. 119-154. p.

561. GIBER, János - HÜBLER, András - MARTON, Dénes : On the local energy levels of a silicon vacancy. = Physics Status Solidi, (b) 79. 1977. K71-K74. p.

562. GIBER, János: Problems of the quantitative SIMS analysis. /Szakelőadás./

/ Third International Summer School on Vacuum Physics, Fonyód, 1977./

563. GIBER, János: Secondary ion mass spectrometry and its applications on surfaces of semiconductors and metals. /Szakelőadás./ /FOM-Instituut voor Atoom- en Molecuulfysica, Amsterdam, 1977./

564. GIBER János : Szilárdtest felületfizikái kutatások. 25-30. p. = Budapesti Műszaki Egyetem Fizikai Intézet Kutatómunkája 1972-1977. Szerk.: Giber János, Láng László, Tóth András, Verhás Jóísef. Bp. BME Fizikai Intézet, 1977. 263 p.

565. GIBER János - MEZEY Lőrinc Zoltán - MARTON Dénes : Szilárdtestek szabad- és határfelületi összetételének számítási lehetőségei és kísérleti vizsgálata SIMS-el. /Szakelőadás./ /Eötvös Loránd Fizikai Társulat Vándorgyűlése, Eger, 1977./

271