A Budapesti Műszaki Egyetem Évkönyve 1967-1968

Tudományos, kutatási és művészeti munkásság, publikációk

— Lineáris integrált szilárdtest áramkörök. = Híradástechnika. Bp. 18. 1967. 2-7. Hidas G—Ambrózy András: Noise measuring instrument for audio fre­quency transistors. = Félvezető Eszközök Vizsgálati Módszerei. Szimp. Pre­print 1. Bp. 1967. 105/1—105/8. (3 nyelven.) Gärtner Péter—Nagy András: Mesa tranzisztorok gyors / mérése. = Fél­vezető Eszközök Vizsgálati Módszerei Szimp. Preprint 1. Bp. 1967. 111/1— 111/5. Kenczler Ödön—Csizmadia László: Vákuumzáró elektromos fémkerámia be­vezetők. = TKI belső jelentés. Bp. UKO 13, 18 p. Madas István: Egy sávszűrő elemeinek tűréshatártervezése. = Híradástech­nika. Bp. 18. 1967. 104-111. Musztács István: Vita a műszaki egyetemi oktatás néhány aktuális kérdéséről. = Ped. Közi. Bp. 6. 1967. 4. sz. 64. Ribényi András: Félvezető rétegdiódák impulzus jellemzőinek mérése. 1—2. = Mérés és Automatika. Bp. 1967. 3. sz. 117—119. 4. sz. 153—154.-----Tran­z isztorok impulzus üzeme. = Mérés és Automatika. Bp. 1967. 5. sz. 192—194.-----Tranzisztorok határadatai. = Mérés és Automatika. Bp. 1967. 6. sz. 247— 2 48. 11. sz. 449—451.-----Digitális frekvenciamérők. = Mérés és Automatika. Bp . 1967. 11. sz. 436-439. Bozsóki István—Géher Károly—Romhányi Miklós—Theisz Péter: A híradás- technika szak alapozó szaktárgyi jegyzeteinek együttes felülvizsgálatáról. = Ped. Közi. Bp. 6. 1967. 3. sz. 33—46. Székely Vladimir: Nagyfrekvenciás tranzisztorok keresztmoduláció mérése kompenzációs módszerrel. = Félvezető Eszközök Vizsgálati Módszerei Szimp. 1. köt. Bp. 1967. 112/1-112/7. Sárossy József—Székely Vladimir: Determination of distortion conditions by means of differential geometric methods. = Per. Pol. El. Bp. 10. 1967. 4. sz. 289—330.-----Térleképezések torzulásviszonyainak meghatározása differenciál­g eometriai módszerekkel. = M. Fiz. Folyóirat. Bp. 15. 1967. 1. sz. 49—85. Valkó Iván Péter: Some research results in semiconductor structure tests. = Preprints of the Symp. on Test Methods and Measurements of Semiconductor Devices. Bp. 1967. 1—9.-----Influence of spontaneous fluctuations on ultra­v acuum measurements. = Proc. of the Seminar on Ultrahigh Vacuum Sei. Techn. and Appl. 1967. 1—7.------Cső és tranzisztor. Békés egymás mellett élés a technikában. = HTE Évkönyv. Bp. 1967. 3. sz. 339—346 p.-----Gondolatok a vizsgamódszerekről. = Ped. Közi. Bp. 6. 1967. 3. sz. 19—27. Szabadalmak Székely Vladimir—Sárossy József: Nonlinearitásmérő eljárás képbontó be­rendezésekhez. Magy. szab. 153.575. Előadások Ambrózy A.: Direct reading noise measurement by time varying smoothing circuit. (Salford-i Egyetem, 1967.)------Pulse measurement of working point c onditions of high power transistors. (HTE—MTA. Bp. 1967.) Hidas G—Ambrózy A.: Noise measuring instrument for audio frequency transistors. (HTE—MTA. Bp. 1967.)-----A félvezető diódák zajmérése. Vizsgála­16 8

Next

/
Thumbnails
Contents