Budapesti Műszaki Egyetem - tanácsülések, 1982-1983
1982. szeptember 20. (5-255 ) - 1. Beszámoló a BME 1981/82. tanévi munkájáról. Előterjesztés az 1982/83. tanévi munkatervre - 2. Javaslat az Egyetemi Tanács külső tagjaira, valamint a tanácsi bizottságok vezetőire és tagjaira - 3. A rektorhelyettesek közötti munkamegosztásról - 4. A posztgraduális képzés fejlesztésének rövid-és hosszú távú feladatai - 5. A BME Emlékérmének adományozása. Javaslat tiszteletbeli doktorrá avatásra. - 6. Javaslat doktori szigorlat kandidátusi szakmai vizsgaként történő elfogadására
- 4 43. Proof of the Manley - Rowe Relations Electronics Letters 1./1965/. 129. old. 44. Integrált szilárdtest áramkörök Híradástechnika 14. /1965/. 3o9-312 old. 45. Integrált szilárdtest áramkörök megbízhatósága HIKI Közlemények 5 1965. 73-81 old. 46. Változó hányados elektronikus képzése és ábrázolása /Valkó-Ambrózy/ Mérés és Automatika 13. 1966. 143-147 old. 47. Ujabb fejlődés az integrált árajrkörök területén. Híradástechnika /15/ 1S66. 274-276 old. 48. Röhre und Transistor-ein Vergleich.Radio und Fernsehen /15/ 1966. 131-133 old. 49. Integrált szilárdtest áramkörök tervezése Mérés és Automatika /14/ 1966. 353-355 old. 50. Cső és tranzisztor a technikában HTE Évkönyv 1967. 51. Somé ressearch results in semiconductor struture tests.Proc.of the Synposium on Test Methods of Semiconductor Devices Budapest,1967. 1-9 old. 52. Influence of Spontaneous Fluctuations Proc.of the Seminar on Ultrahigh Vacuum 1967.XVIII.17.old. 1-7 old. 53. A csoportos integrálás Híradástechnika 19./1968/ 258-262 old. 54. New Aspects in the Reliability of Microelectronics. Proc.of the 2.Synp.on Rel.in Electronics Budapest, 1968. 228-235 old. 55. Integrált áramkörök. Fizikai Szemle 23./1969/ 17o-178 old. 56. Az integrált áramkörök alkalmazásának kiterjesztése extrém nagy frekvenciákra Híradástechnika'20./1969/. * 13o-132 olci. 57. Eine anschauliche Ableitung der Grundlegenden Rauschforneln.Per.Pol.El.Eng.15/2,1971. 77-84 old. 58. A note on the influence of spontaneous fluctuations. Per.Po.El.Eng.16 /2/1172. 149-153 old. 59. Factros influencing the reliability of integrated circuits.Proc.of the 3d synposium on reliability in electronics /társszerzővel/Budapest,1973. 4o3-417 old.
