183925. lajstromszámú szabadalom • Berendezés síkfelületű anyagminták optikai állandóinak meghatározásához
(19) HU MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG SZABADALMI LEÍRÁS SZOLGÁLATI TALÁLMÁNY A bejelentés napja: (22) 82.05.18. (21 ) 1558/82 Módosítási elsőbbsége: 83.05.20. 111183 925 Nemzetközi osztályjelzet: (51) NSZO3 G 01 N 21/41 21/55 21/59 ORSZÁGOS TALÁLMÁNYI HIVATAL A közzététel napja: (41) (42) 83.11.28. Megjelent: (45) 1987.03. 15. Szabadalmi Tár. ^ tulajdoné. v Feltalálóik): (72) Szabadalmas: (73) KÁNTOR Károly, oki. gépészmérnök, 55%, dr. SCHANDA János, MTA Műszaki Fizikai Kutató Intézete, Budapest oki. fizikus, 30%, DOBOVICS Miklós, vili. üzemmérnök, 15%, Budapest (54) BERENDEZÉS SÍKFELÜLETŰ ANYAGMINTÁK OPTIKAI ÁLLANDÓINAK MEGHATÁROZÁSÁHOZ (57) KIVONAT A találmány berendezés síkfelületű anyagminták optikai állandóinak meghatározásához, mely berendezésnek kiválasztható beesési szögű, a beesési síkra vonatkoztatva rögzített polarizációs irányú, monokromatikus megvilágító fénynyalábja, az anyagminta elhelyezsére és pozicionálására alkalmas mintatartó egysége, fénynyalábok intenzitását mérő egysége(i), valamint a fénynyalábok intenzitását mérő egységekhez kapcsolódó villamos mérőjelek tárolására alkalmas villamos tároló egysége(i) vannak és az jellemzi, hogy a mintát kiválasztott beesési szögben megvilágító fénynyalábot két olyan azonos hullámhosszúságú, közös optikai tengelyen nyalábegyesítő elemmel egyesített, a beesési síkkal párhuzamosan és arra merőlegesen polarizált komponensnyaláb alkotja, melyeknek fényforrásai vezérelhető és szakaszos üzemben működtethető fényforrások. A berendezés célszerűen kialakított kiviteli alakjai lehetővé teszik folyadékminták vagy félvezető detektorok felületén történő méréseket is, valamint a mérési adatok mikroprocesszorral történő közvetlen feldolgozását. 1. ábra
