166296. lajstromszámú szabadalom • Eljárás optikai testek hibáinak kimutatására
MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG ORSZÁGOS TALÁLMÁNYI HIVATAL SZABADALMI LEÍRÁS Bejelentés napja: 1972. 09. 18. Franciaországi elsőbbsége: 1971. 09. 24. (71 34.556) Közzététel napja: 1974. 09. 28. Megjelent: 1976. 03. 31. (SA—2403) 166296 Nemzetközi osztályozás: G 01 b 9/00 11/00 Feltaláló: Hategan Stephane mérnök, Charenton, Franciaország Tulajdonos: Saint Gobain Industries, Neuilly sur Seine, Franciaország Eljárás optikai testek hibáinak kimutatására i A találmány tárgya eljárás adott mértani alakú, optikai testek optikai hibáinak kimutatására és a hibák változásainak mérésére. Optikai testek vizsgálatát általában a testen áthaladó fény intenzitás-változásával lehet elvégezni. Ezen mód- 5 szer szerint a fénysugarat fotocellára bocsátják, majd a fotocellán a fény intenzitásának változása által keltett jeleket regisztrálják. Ha például a vizsgált optikai test lapalakú, akkor az egyik módszer szerint a vizsgálatot széttartó sugárnya- 10 lábbal végzik. Ilyen megoldást ismertet a 880 135 lajstromszámú brit szabadalmi leírás. Másik módszer szerint a vizsgálatot párhuzamos sugarakkal oldják meg. Ezt a megoldást az 1 509 107 lajstromszámú francia szabadalmi leírás ismerteti. 15 Ezen eljárásokkal azonban a húzással készített, jóminőségű, optikai célokra alkalmas üveglapoknak a húzás közben keletkezett hibáit nem minden esetben lehet kimutatni. Ilyen hibák: az üveg felületén keletkező barázdák, 20 melyek a hőmérséklet-változás miatt lépnek fel s amelyek következtében az üveg felületén szemmel nem látható csatornák alakulnak ki, — az üveglap elcsavarodása, ami a fentihez hasonló, adott esetben azonban csak kisebb hibát jelent, 25 — az üvegfelület hullámossága, ami viszont már lényegesen nagyobb hiányossága az üvegnek. Ezeket a hibákat természetesen csak nagyítóval lehet észlelni. Megállapítható, hogy azok az optikai hibák, 30 amelyek az üveg előgyártása során keletkeznek, az ezen üvegből készített optikai testekben, mint végtermékben is megtalálhatók. Ez a hiba abban jelentkezik, hogy az üvegre bocsátott függőleges irányú fénysugár eltérést mutat. A pontosabb hibamegállapítás céljából már korábban is javasolták, hogy a fénysugarat kettős-tükör, vagy lencserendszer segítségével egymásra, majd az üveglap egy keskeny sávú felületére képezzék le. A leképezett fénysugár intenzitásának változását egy fotocella két, egymással szemben elhelyezett ernyőjén detektálják. Ezt a megoldást ismerteti az 1 282 633 lajstromszámú szabadalmi leírás. Az ezen elven kialakított készülék azonban igen érzékeny és bár a legkisebb rejtett hibát is felfedi, ugyanakkor azonban a változó fénytörés következtében az analízis veszít pontosságából. Ezen túlmenően azonban ez az eljárás nem teszi lehetővé a fénysugár eltérítése révén történő hibahely megállapítások, ill. a fényintenzitás változásának mérését. Legismertebb az a módszer, amikor egy síküveg vizsgálata alkalmával a síküvegen keresztül haladó fénysugarat alkalmazunk, vagy amikor alkalmas módon elhelyezett tükrök felületéről reflektált, két, egymástól elválasztott fénysugarat bocsátunk keresztül az üvegen. Úgy is el lehet járni természetesen, hogy csak egy olyan fénysugarat bocsátunk át az üvegen, amelyet előzőleg egy tükör felületéről reflektálunk. Az ezen eljárás foganatosítására alkalmas berendezés segítségével ki lehet mutatni a vizsgált jellemzőket, oly módon, hogy az egyenes vonalban haladó fénysugár észlelésével egy időben a 166296 1
