159716. lajstromszámú szabadalom • Eljárás szelén egyenirányító rétegek előállítására

MAGTAR NÉPKÖZTÁRSASÁG ORSZÁGOS TALÁLMÁNYI HIVATAL SZABADALMI LEÍRÁS SZOLGALATI TALÁLMÁNY Bejelentés napja: 1969. XI. 10. (EE—1740) Közzététel napja: 1971. VII. 02. Megjelent: 1972. X. 31. 159716 Nemzetközi osztályozás: H 01 1 7/08 Feltalálók: Eszes Imre fizikus, Borbély Albert vegyészmérnök, Budapest Tulajdonos: Egyesült Izzólámpa Villamossági Rt., Budapest Eljárás szelén egyenirányító rétegek előállítására 1 A találmány eljárás szelén egyenirányítóré­tegek előállítására, amely révén a szelénegyen­irányítók paraméterei jelentős mértékben javít­hatók. Az ismert eljárásoknál vas vagy alumínium alaplemezre vákuumtérben egy vagy több ré­tegben szelént vagy szelén és félvezetőanyag keveréket párologtatnak, és a rétegre, illetve rétegekre zárórétegként fémötvözetet porlasz­tanak. A szelén vezetőképességének javítására az egyes szelénrétegeket különböző koncentrá­ciójú, illetve fajtájú halogénekkel vagy halo­gén vegyületekkel szennyezik. Egy-egy réteg felvétele előtt az alaplemezt, illetve már leme­• zen levő rétegeket sok esetben hőkezelésnek vetik alá. 10 15 Szokásos eljárás az egyes szelénrétegekben a halogének vagy halogén keverékek, illetve ve­gyületek koncentrációját úgy alakítani, hogy a koncentrációk az alaplemeztől az ellenelekt­róda felé monoton csökkenő vagy növekvő ér­téket adjanak. Az egyes szelénrétegek elpárologtatásáit vá­kuumtérben végzik, mégpedig, úgy, hogy a vákuum a párologtatás kezdetétől befejezéséig folyamatosan nő, azaz a vákuumtérben levő nyomás folyamatosan csökken. A párologta­tás folyamán az alaplemez belső felülete mel­lett fűtőeszközt alkalmaznak úgy, hogy az 30 20 25 alaplemez felületi hőmérséklete a párologtatás közben változik. Az ilyen ismert eljárásokkal készített szelén­egyenirányítók az ipar mai követelményeit már nem tudják jelentős műszaki ráfordítás nélkül kielégíteni, mert az e nélkül előállított szelén­egyenirányítók záró és nyitó irányú paramé­terei és élettartama nem kielégítők. Kísérleteink eredményei szerint ennek egyik oka, hogy a szelénben levő szennyező aktiválása a párologtatás közben vákuumtérben uralkodó nyomás nagyságától függ. A szennyezők például nagyobb vákuumban, azaz kisebb nyomás ese­tén az alaplemez felületén üregképződésre ve­zethetnek és ezek az üregek olyan mértékűek is lehetnek, hogy a réteg, illetve rétegek külső felületéig is kiérnek. Az ellenelektróda réteg felvitele után a záróréteg és alaplemez között zárlatot okozhatnak. A szelénben, illetve az alaplemezen levő szennyező, vákuumban fellé­pő, üregképződést előidéző bomlása nagyobb vákuumban intenzívebb, ezért ez esetben páro­logtatás közben nagy vákuum alkalmazása hát­rányos. Az egyes szeléntrétegek belsejében a nagyobb vákuum, azaz a kisebb nyomás hatására kelet­kező, fel nem repedt üregek csökkentik a réteg keresztmetszetét, minek eredményeként a nyitó­irányú paraméterek romlanak. 159716

Next

/
Oldalképek
Tartalom