152604. lajstromszámú szabadalom • Berendezés sík felületek reflexió-képességének meghatározására

MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG ORSZÁGOS TALÁLMÁNYI HIVATAL SZABADALMI LEÍRÁS SZOLGÁLATI TALÁLMÁNY Bejelentés napja: 1962. V. 08. Közzététel napja: 1965. VIII. 22. Megjelent: 1966. V. 01. (MA—1145) 152604 Szabadalmi osztály: 42 b 12—24 Nemzetközi osztály: G 01 d Decimái osztályozás: Feltaláló: Kántor Károly oki. gépészmérnök, Budapest Tulajdonos: Központi Fizikai Kutató Intézet, Budapest Berendezés sík felületek reflexióképességének meghatározására Az optikában, az anyagvizsgálatban (pl. reflexiós színképvizsgálat) és egyéb tudományágakban sok esetben van szükség különböző részben átlátszó, vagy átlátszatlan anyagok adott hullámhosszúságú elektromágneses sugár- 5 zásra vonatkozó reflexióképességének meghatározására. Mint ismeretes iftpL H. Bennett, W. Koehler: J. Opt. Soc. Am. 50, 1, 1960 és az ott idézett 10 irodalom) a reflexióképességet általában összehasonlító testhez, pl. lemezhez (etalon) képest mérik, a mérendő felületnek az összehasonlító etalon helyére történő helyettesítésével. Ilyen méréseknél azoniban igen gondosan kell ügyelni 15 az optikai sugármenetek azonosságára, az etalon és a mérendő felület esetleges felületi különbözősége miatt legtöbb esetben integráló gömböt kell használni, az eddig ismert módszerek nem teszik lehetővé az elméleti és gya- W korlati, szempontból igen fontos, a mérendő felületre merőlegesen beeső sugárzásra vonatkozó reflexióképesség méréseket, azonkívül az etalonlemezék reflexióképessége idővel változik, tehát az aktuális mérés előtt azt bonyolult 25 módszerekkel külön meg kell határozni, végül a. mérések pontossága különösen a nagy reflexióképességek esetében eléggé korlátozott. A találmány olyan berendezés a reflexióképesség mérésére, mely az ismert berendezések 30 használata során mutatkozó, fent felsorolt hátrányokat nem mutatja. A találmány szerinti berendezést az jellemzi, hogy valamely fényforrásból származó párhuzamos fénynyaláb optikai tengelyéhez képest állítható módon, célszerűen a fénynyaláb irányára merőlegesen, ismert reflexióképességű, részben áteresztő, részben reflektáló etalonfelület, pl. lemez és az ugyancsak részben áteresztő, részben reflektáló mérendő reflexióképességű felület, pL lemez, úgy van elhe^ lyezve, hogy az előbbivel kis hegyes szöget zár be, amely szög finoman szabályozó szervvel pontosan beállítható. A berendezés további jellemzői a fénysugár útjában elrendezett kisméretű nyilas, ennek többszörös optikai leképzésére alkalmas, a fenti lemezek előtt és mögött fekvő lencserendszer, végül' a többszörös reflexió során keletkezett képek intenzitásának mérésére való szerv, pl. egy vagy több fényinfenzításimérő, vagy intenzitás regisztráló. A berendezést és ennek működési módját példaképpen az 1. ábrán feltüntetett kiviteli alakon mutatjuk be részletesen, Az —I4— lencse első fókuszában az elegendően nagyméretű —F— flényforrás, az —L2— lencse második fókuszában a —B— nyilas van elhelyezve, vagyis az —14—•, —Lg— lencsék az —F— fényforrás fényével kivilágítják a —B— nyilast oly módon, hogy a fénynyaláb az —I4— 152604