151505. lajstromszámú szabadalom • Eljárás piezoelektromos rezgőelemek vastagságmérettől függő frekvenciájának, illetve vastagságméretének az optikai csiszolás során való mérésére és berendezés ezen eljárás lefolytatására

MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG ORSZÁGOS TALÁLMÁNYI HIVATAL SZABADALMI EÍHÁS Bejelentés napja: 1961. XII. 19. (SA—1400) Közzététel napja: 1983. XI. 26. Megjelent: 1965. VII. 01. 151505 Szabadalmi osztály: 21 a4 1—13 Nemzetközi osztály: H 03 b Decimal osztályozás: Feltaláló: Szlávy Aladár üzemvezető, Budapest Tulajdonos: Telefongyár Rt., Budapest Eljárás piezoelektromos rezgőelemek vastagságmérettől függő frekvenciájának, illetve vastagságméretének az optikai csiszolás során való mérésére és berendezés ezen eljárás lefolytatására 1 A találmány tárgya piezoelektromos rezgő­elemek vastagságmérettől függő frekvenciájá­nak, illetve vastagságméretének az optikai csi­szolás során való mérésére szolgáló eljárás, — valamint berendezés ezen mérési eljárás lefoly- 5 tatására. A vastagságrezgő kristályok, — valamint vastagságrezgő módban is rezgésre hajlamos egyéb kristályok, mint piezoelektromos rezgő­éi emek gyártása az alábbi öt műveleti fősza- 10 kaszra különíthető el. A természetes, kvarckristály tengelyrendsze­rének megállapítása után a kvarctömböt a meghatározott síkkal párhuzamosan felszelete­lik, majd a szeletekből meghatározott irányban 15 kimetszett lapok határoló síkjait — adott atomsikokkial bizonyos hajlásszögben — rönt­gen-reflexiós módszer alkalmazásával becsiszol­ják {az ún. nyerslapka-gyártás); ezután a nyerslapkákból az optikai iparban alkalmazott 20 csiszolási eljárással a kívánt méretű kristályo­kat előállítják, különös gonddal ügyelve arra, hogy az ezen eljárás során előállított sík a röntgen-reflexiós módszerrel becsiszolt síkhoz képest párhuzamos maradjon; ez a művelet a 25 síktárcsára illesztett kristályokon csoportosan történik l(az ún. optikai csiszolás); ezt követően ^mechanikai méretre kész kristályokat egyen­kint kézi finomcsiszolóban — az ún. léppoló­ban —-' történő csiszolássá1 , majd fluórsavban 30 való maratással a kívánt frekvenciaértékre ál­lítják be [(egyedi frekvencia-előbeállítás); majd az így előbeállított kristályokra vákuum-por­lasztással (nemes) fémelektródákat visznek fel és kivezető elektródákat erősítenek, végül az elektródákkal ellátott kristályt tartóállványra erősítik, a kristály frekvenciáját a névleges ér­tékre helyesbítik és a kész kristályegységet burába zárják. Ennek az összetett eljárásnak a során a kris­tály lapjainak párhuzamossága döntő működési és minőségi követelmény: ez ugyanis egyrészt az ún. veszteségi ellenálláson ós a jósági té­nyezőn („Q"-faktor) keresztül a kristály rez­gési készségére —, másrészt az egyszerre •— egy síktárcsán — készülő kristályok frekven­ciáinak egymásközötti „szórására", valamint a röntgen-szögre csiszolt felülettel való párhuza­mos csiszolás során előálló szögeltérésen ke­resztül a kristály ún. 'hőfoktényezőjére i(ia kris­tály frekvenciájának a hőmérséklettől való füg­gésére) van befolyással. A második gyártási szakaszban — az optikai csiszolás során — el­ért kristálylap-párhuzamossiág a frekvenciára csiszolás során — tehát az egyedi leppolóban végzett harmadik gyártási szakaszban — le­romlik, ami a felsorolt paraméterek tekinteté­ben a piezoelektromos kristály minőségi rom­lását, vagy egyes esetekben a kristálylap hasz­nálhatatlanná válását vonhatja maga után. 151505

Next

/
Oldalképek
Tartalom