150426. lajstromszámú szabadalom • Röntgenképerősítő berendezés a finomszerkezeti analízis céljára
Megjelent: 1963. augusztus 15. MAGYAR NÉPKÖZTÁRSASÁG <íT "SJADALMÍ LEÍRÁS Nemzetközi osztály: H 05 g ÜKSZÁGOS TALÁLMÁNYI HIVATAL 150.426 SZÄM ZE-189 ALAPSZÁM Magyar osztály: 21 g 29—35 Rönígenképerősííő berendezés a finomszerkezeti analízis céljára VEB Carl Zeiss Jena cég, Jena (NDK) Feltalálók: Albrecht Günter fizikus, Friel Hanns-Imino mérnök, dr. Krohs Alíred fizikus, Pohl Hans-Joaehim, fizikus, Schlöhlein Fritz üvegfúvó. Zerbst Günter fizikus, valamennyien Jenában (NDK) A bejelentés napja: 1961. július 7. Német Demokratikus Köztársaságbeli elsőbbsége: 1960. július 25. A találmány a röntgen finomszerkezeti analízisben vagy a röntgen mikroszkópiában alkalmazandó röntgenképerősítőre vonatkozik. Ismeretesek olyan röntgenképerősítők, amelyeknél a képátalakító elv felhasználásával, normál röntgenvilágító ernyővel optikai kontaktusban levő és ennek fénykibocsátást megindító fotokatódja által kiválasztott elektronokat elekronoptikai közegen át kicsinyítve világító ernyőre képezünk le. A röntgenérzékeny primer-ernyőből, fotókatódból elektronoptikai leképzőrendszerből és elektronérzékeny szekunder-ernyőből álló rendszer oly üvegballonban van elhelyezve, melynek falvastagsága a benne szükségképpen uralkodó nagynyomás miatt 2—3 mm kell hogy legyen. A nagy 103 nagyságrendű fénysűrűségerősítést egyrészt az elektronokra gyorsulás közben bevezetett 20 keV-nál nagyobb energia, hozza, létre, másrészt az elektronkép viszonylagosan erős kicsinyítése, amelynél a megvilágítási sűrűségek a primer- és szekunderkép felületeihez fordítottan aránylanak. Ilyen röntgenképerősítőknek az orvosi technikában való alkalmazása során már terjedelmes tapasztalati anyagot gyűjtöttek, mely a. berendezés használhatóságát igazolja. Szokásos módon 60—SO kV gerjesztési feszültségű röntgenfékező sugárzással dolgoznak. A röntgeniképátalakítót érő sugárzásból ezáltal az üvegfalazatban csak 10—20%ot abszorbeálunk. Amennyiben azonban ilyen, berendezéseket a finomszerkezeti analízis, pl. Debye—Soherrervagy Laue-diagramok megfigyelése és felvétele vagy a röntgen-mikroszkopiában akarjuk alkalmazni, úgy ezek az alábbi okok miatt használhatatlanoknak bizonyulnak. A finomszerkezeti vizsgálatoknál alkalmazott röntgensugárzás, pl. Cuk -sugárzás lényegesen nagyobb hullámhosszúságú, mint az orvosi technikában alkalmazott. Mint azonban ismeretes a röntgensugárzáshoz viszonyítva minden anyag abszorpciós együtthatója az elnyelési határon kívül a hullámhossz harmadik hatványával nő. Ennek a következménye jelentős intenzitás-veszteság az elülső üveggömb falazatban úgy, hogy a nagyfokú erősítés ellenére csak csekély teljesítmény érhető el. Az egyszínű lágy röntgensugárzás átengedőképességére vonatkozóan —• úgy, ahogy az a finomszerkezeti analízisben alkalmazásra kerül — 2 mim falvastagságú, a normál röntgenképerősítő elülső falát képező kemény üvegen, pl. a következő értékesket kapjuk: 0) :0 o 'A <a i-J-i XI J3 ' -° KI ^ ö ^ OB "3 ES SC •<L> •.£) Q bi -J « £> <v Átengedőképesség > D = l/Io. 3 8 MÍAX .100(»/o) CrK CuK MoK 2,28 6 <IO-20 1,54 9 ca 10'14 0,94 20 3,4 A találmány oly röntgenképerősítőre vonatkozik, amelynél a lágy röntgensugárzás rendkívül nagy abszorpciójának hátrányát a találmány sze-
